电磁兼容理论、检测与设计基础(二) .pptVIP

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  • 2017-10-19 发布于江西
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电磁兼容理论、检测与设计基础(二) .ppt

电磁兼容理论、检测与设计基础(二) 

电磁兼容理论、检测与设计基础;四、电磁兼容标准及其检测技术;四、电磁兼容标准及其检测技术;4.1 电磁兼容标准构成及其相应要求;?4.1.2 欧盟标准——EN标准;4.1.3 美国FCC法规;?4.1.4 中国国家标准;?4.1.5 标准类别;? 4.1.5 标准类别(续);?4.1.6 EMC标准要求的主要检测项目;4.1.6 EMC标准要求的主要检测项目(续);4.2 电磁兼容测试设备和场地;?;?;?;?;?;4.2.1 测量接收机(续);4.2.1 测量接收机(续) ?;4.2.1 测量接收机(续) ?;4.2.1 测量接收机(续);?4.2.2 人工电源网络;4.2.2 人工电源网络(续);? 4.2.2 人工电源网络(续);? 4.2.2 人工电源网络(续);?4.2.3 电流探头;?4.2.3 电流探头?(续);4.2.3 电流探头?(续);4.2.4 电压探头;4.2.4 电压探头(续);4.2.5 天线;4.2.5 天线(续)?;环型磁场天线(9kHz~30MHz)及其天线系数;鞭状天线(150kHz~30MHz)及其天线系数;双锥天线(30MHz~300MHz)及其天线系数;对数周期天线(80MHz~1000MHz)及其天线系数;喇叭天线(200MHz~40GHz)及其天线系数;4.2.6 电磁屏蔽室 ;?4.2.6 电磁屏蔽室(续);? 4.2.6 电磁屏蔽室(续);4.2.6 电磁屏蔽室(续) ?;4.2.6 电磁屏蔽室(续);4.2.6 电磁屏蔽室(续)?;4.2.6 电磁屏蔽室(续) ?;4.2.7 电波暗室;4.2.7 电波暗室(续)?;4.2.7 电波暗室(续) ?;4.2.7 电波暗室(续) ?;?;4.2.7 电波暗室(续) ?;4.2.7 电波暗室(续) ?;4.3电磁骚扰的检测原理及方法;当该限制是用来判别单件产品是否满足标准要求时,情况比较复杂。 如上图所示,假设测量值为x,限值为A,该测量项目的测量扩展不确定度半宽为a。 那么,当xA-a时,我们判定被测样品测试合格; 当xA+a时,我们判断被测样品测试不合格; 当A-a≤x≤A+a时,我们认为测试结果为不确定。;4.3.2 被测样品工作状态的选择;4.3.2 被测样品工作状态的选择(续);4.3.3 EUT的配置;4.3.4 传导骚扰电压;4.3.4 传导骚扰电压(续)?;4.3.4 传导骚扰电压(续) ?;4.3.4 传导骚扰电压(续) ?;4.3.4 传导骚扰电压(续) ?;4.3.5 骚扰功率测量;4.3.5 骚扰功率测量(续)?;4.3.5 骚扰功率测量(续) ?;?;4.3.5 骚扰功率测量(续) ?;4.3.6 辐射骚扰场强测量;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续)?;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续) ?;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续) ?;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续) ?;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续) ?;4.3.6 辐射骚扰场强测量(续) ?;4.4 电磁抗扰度测试的基本原理和方法;?;4.4 电磁抗扰度测试的基本原理和方法(续);4.4 电磁抗扰度测试的基本原理和方法(续);4.4.1 性能下降客观评价方法;4.4.2 性能降低主观评价方法;4.4.3 限值测量法;4.4.4 抗扰度性能降低分类及试验结果判别;4.4.4 抗扰度性能降低分类及试验结果判别(续)?;4.4.4 抗扰度性能降低分类及试验结果判别(续) ?;4.4.4 抗扰度性能降低分类及试验结果判别(续);4.5 谐波电流发射测量;4.5.1 基本概念;4.5.2 谐波的危害;4.5.3 标准的适用范围;4.5.4 设备的分类;4.5.5 通用要求;(3) 根据制造商提供的信息对受试设备进行测量。 为了保证测量结果符合正常使用时的状况,在试验开始前,可能需要由制造商启动电动机预运行。 (4) 当限值是以功率的形式给出时,该功率值应在试验过程中被用来确定限值。 谐波电流和有功输入功率应在相同的试验条件下测量,但不需同时测量。;(5) 对于C类设备,制造商规定的基波电流和功率因数应被用于限值的计算。 基波电流分量和功率因数由制造商测量和规定,如同D类限值的计算而测量和规定功率一样。所用的功率因数值应从与电流基波分量值相同的DFT测量窗获得。 (6) 当手动或自动的将设备投入或退出运行状态,持续时间小于10s的谐波电流不予考虑。 被试设备不应在待机模式下超过任何观测周期的10%。 (7) 对于安装在机柜或机箱内的组合式设备,若分立单元可以单独接到电网中,则只需对各分立单元进行谐波电流测量,而不必考核组合式设备整体。;4.5.6 谐波电

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