新一代SARADC解决精密数据采集信号链设计的难点.PDF

新一代SAR ADC解决精密数据采集 信号链设计的难点 作者：Maithil Pachchigar和Alan Walsh 共享 简介 的RC滤波器置于驱动器与ADC输入之间，这项要求又对放大器选择 许多应用都要求采用精密数据采集信号链以数字化模拟数据， 和性能构成了进一步的限制。ADC驱动器输出与SAR ADC输入之间需 从而实现数据的精确采集和处理。精密系统设计师面临越来越 要用RC滤波器来限制宽带噪声，减少电荷反冲的影响。一般情况 大的压力，需要找到创新的办法，提高性能、降低功耗，同时 下，系统设计师需要花费大量时间去评估信号链，确保所选ADC驱 还要在小型PCB电路板上容纳更高的电路密度。本文旨在讨论精 动器和RC滤波器能切实驱动ADC ，以实现所需性能。 密数据采集信号链设计中遇到的常见难点，探讨如何运用新一 在功耗敏感型应用（如电池供电仪器仪表）中，通常需要用低压 代16位/18位、2 MSPS 、精密逐次逼近寄存器(SAR) ADC解决这些难 单电源来运行系统。这虽然最大限度地降低了电路的功耗，但却 点。AD4000/AD4003 （16位/18位）ADC基于ADI 的高级技术设计而 给放大器前端带来了上裕量和下裕量问题。这意味着，可能无法 成，集成了多种简单易用的特性，具有多种系统级优势，有助 使用ADC输入的全部范围，因为驱动放大器无法一直驱动到地， 于降低信号链功耗，降低信号链复杂性，提高通道密度，同时 也无法一直驱动到ADC输入范围的上限，结果会降低整个系统的 还能提高性能水平。本文将重点讨论数据采集子系统性能和设 性能。这种情况可以通过提高电源电压来弥补，但其代价是会增 计挑战，说明该ADC 系列如何在多个终端市场形成应用级影响。 加功耗，或者造成系统的动态范围性能下降。 常见的信号链设计难点 多数ADC模拟输入（IN+和IN−）除ESD保护二极管以外没有过压保 图1显示了在构建精密数据采集系统时使用的典型信号链。要求 护电路。在放大器电轨大于VREF且小于地的应用中，输出有可能 精密数据采集系统的应用（如自动化测试设备、机械自动化、工 超过器件的输入电压范围。在过压事件中，两个连接REF的模拟 业和医疗仪器仪表）呈现出通常被认为在技术上相冲突的共同趋 输入（IN+或IN−）引脚之间的ESD保护二极管正向偏置连接REF的输 势。例如，系统设计师被迫在性能上妥协，以维持紧张的系统功 入引脚并使其短路，有可能使基准电压源过载，导致器件损毁， 率预算，或者在电路板上保留较小的面积以实现高通道密度。这 或者干扰在多个ADC之间共用的基准电压源。结果就需要为ADC输 些精密数据采集信号链的系统设计师在多个方面面临着共同的挑 入添加肖特基二极管一类的保护电路，避免过压条件损害ADC 。不 战：驱动SAR ADC输入；保护ADC输入以使其免受过压事件影响； 幸的是，肖特基二极管可能会因漏电流而增加失真及其他误差。 用单电源降低系统功耗；用低功耗微控制器和/或数字隔离器实现 精密应用在连接ADC 的处理器方面有着不同的需求。出于安全考 更高的系统吞吐量等。 虑，有些应用需要使用电气隔离机制，并在ADC 与处理器之间使 Signal Ref Ref Digital 用数字隔离器来实现这个目的。这种处理器选择和隔离需求对用 Conditioning Buf Isolator Stage (Optional)