杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量.pdfVIP

第23卷第2期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．23。No．2 2011年2月 HIGHPOWERLASERANDPARTlCLEBEAMS Feb．，2011 文章编号： 1001—4322(2011)02一0531—05 杆箍缩二极管X射线焦斑的成像法测量’ 宋顾周， 朱宏权， 韩长材， 马继明， 张占宏， 李宏云， 杨海亮 (西北核技术研究所，西安710024) 摘要：X射线源的焦斑尺寸是反映杆箍缩二极管射线源成像性能的重要参数。利用针孔成像法对 film。 MeV级脉冲X射线源的焦斑进行了2维图像测量。厚针孔采用直孔段加单锥体结构，直孔段孔径为0．2 对于0．5MeV的X射线，5倍成像倍率下调制传递函数值为0．5时空间分辨达到2．0 lp·mm～。图像采集系 统由闪烁体、物镜和CCD相机组成。物镜的成像倍率约0．34。实验结果经过模糊校正后，得到了焦斑的图像 和调制传递函数。根据调制传递函数值为0．5时对应的空间频率值，给出X射线源焦斑的尺寸。阳极杆直径 rnm。 为1．2mm时，x射线源焦斑的高斯分布等效直径为0．86 关键词：秆箍缩二极管；脉冲X射线源；焦斑；针孔； 图像测量 中图分类号：TL503；TN249文献标志码：A doi：10．3788／HPLP0531 的优点等得到广泛的研究和应用[1。2]。西北核技术研究所研制了3．5MV的感应电压叠加器(IVA)驱动源，并 在此基础上成功地开展了RPD实验，获得了较高的X射线输出剂量，二极管上的电压达到约2．0MeV[3。4]。 在进行闪光照相时，X射线焦斑的尺寸直接决定了系统的空间分辨能力，是反映射线源成像性能的重要参数。 目前，常用的焦斑测量方法是台阶法或狭缝法，通过台阶成像或狭缝成像，计算得到射线源的线扩展函数 映出射线源强度的2维空间分布情况。因此，本研究将直接采用厚针孔成像法测量得到射线源的2维焦斑图 X射线源的焦斑尺寸。 l实验测量系统 像法测量尺寸约为1mm的X射线焦斑图像，需要具 有较高空间分辨的厚针孔装置以及具有较高探测效 率的图像探测系统。为此，研制了孔径为0．2mm的 厚针孑L，构建了基于闪烁体和CCD相机的图像采集 系统。实验测量系统如图1所示，RPD产生的X射 线强度图像，经过厚针孔放大后成像到氧化正硅酸镥 (LSO)闪烁体上，X射线与闪烁体发生相互作用，将 射线强度图像转化为相应的可见光图像，再经过镜面 Sehematicviewof measurement 反射和镜头耦合后，由CCD相机进行图像采集，通过 Fig．1 X—rayspot system 图1 X射线焦斑的测量系统示意图 光纤输出到计算机中进行后续处理。 mm，厚度为8mm，锥孑L段厚度为 实验中，厚针孔为直孔段加锥孑L段的结构，材料为钨，直孔段孔径为0．2 28 mm，锥角为0．025rad。闪烁体为LSO晶体，厚度为4mm。CCD相机为16bit的数字化相机。像元数为 512×512，像元尺寸为24 pm×24弘m。闪烁体、平面镜、镜头及CCD相机均放置在一个封闭的黑暗腔体中，构 成射线图像采集系统。腔体周围进行了铅屏蔽。 为了保证测量系统的空间分辨足够，针孔成像放大倍率设计为5倍，图像采集系统的成像倍率设计为 -收稿日期：2010—04—26；修订日期：2010一lO一25 基金项目：国家自然科学基金项目；国防预研基金项目 作者简介：宋顾周(19