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基于stm32的flash存储器坏块自动检测-计算机系统应用
2013 年 第 22 卷 第 6 期 计 算 机 系 统 应 用
基于 STM32 的Flash 存储器坏块自动检测①
张亚辉, 马胜前
(西北师范大学 物理与电子工程学院, 兰州 730070)
摘 要: 针对 Nand Flash 存储器存在坏块的问题, 提出一种基于 STM32 的Flash 存储器坏块自动检测方法, 通过
STM32 内部可变静态存储控制器, 发出相应的数据、地址、控制信号, 在不增加外部器件的情况下, 快速访问
Flash 存储器, 并给出了部分硬件电路和 C 语言编写的程序代码. 该设计已成功实现自动检测 Flash 坏块的功能;
操作简单、检测速度快、准确率高; 并能读取 Flash 的ID 号检测 Flash 性能, 同时能够存储和读取2GB 数据.
关键词: Nand Flash; 自动检测; STM32; 可变静态存储控制器; 串口通讯
Auto Detection of Invalid Block of Flash Memory Based on STM32
ZHANG Ya-Hui, MA Sheng-Qian
(College of Physics and Electronic Engineering , Northwest Normal University, Lanzhou 730070, China)
Abstract: According to Nand Flash memory bad block problem, this paper proposed a automatic check scheme to deal
with bad block based on STM32. Without increasing the external device, through its internal flexible static memory
controller, sends the corresponding data, address, control signals, to rapid access Flash memory. Its part circuit schematic
diagram and C language program code was introduced. The design has been successfully realized the function of
automatic checking the invalid block finally, and has the advantages of simple operation, fast detection speed, high
accuracy rate, and can read the ID number of Flash to get the performance of the memory. And the design also can write
and read 2GB data.
Key words: Nand Flash; automatic detection; STM32; Flexible Static Memory Controller(FSMC); serial communication
Nand Flash 内存是Flash 内存的一种, 其内部采用 确的判断依据. 为此本文讨论了另外一种坏块处理方
非线性宏单元模式, 为固态大容量内存的实现提供了 法, 利用 STM32 内部的FSMC 总线实现对 Flash 存储
廉价有效的解决方案. Nand Flash 存储器因具有高密 器的读、写、擦除等操作, 很好地解决了模拟时序困
度、大容量、高数据存储速率, 以及更多的擦除次数 难的问题, 软件
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