XANES-北京同步辐射装置.PDFVIP

μ(E)曲线  边前区(Pre-edge) ：-150 至-20eV ，本底吸收  近边区(XANES)：-20 至50eV ，X射线吸收近边结构  远边区(EXAFS)：50 至1000eV ，扩展X射线吸收精细结构 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 原始实验数据 μ(E) 提取精细结构振荡函数 χ(k) 2 N S F (k )exp(−2R / λ) (k ) j 0 j j exp( 2k 2 2 )sin[2kR (k )] χ ∑ 2 − σj j +φj kR j j 拟合求取结构参数 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 基本步骤 Athena Artemis 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 扣除边前和归一化 确定E 和E-k转换 0 扣除背底（Rbkg） Fourier变换（k 的范围和权重） 提取 χ(k) 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 扣除边前  原因：原始数据得到的是样品总的吸收系数，它不仅包括吸收原 子的光电跃迁造成的吸收，还包括吸收原子中的其他电子以及除吸 收原子外其他原子的吸收。处理XAFS谱时，需要把后者扣除掉。  方案：例如迭代低次多项式、正交多项式、傅立叶变换过滤法、 3- 外推法等等。一般使用外推法，应用Victoreen公式（ μ(λ)=Cλ Dλ4 ）拟合吸收边前的吸收曲线，将它延长到吸收边以后，作为本底 部分扣除。 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 归一化  原因：由于设备、数据采集模式、入射光强度、样品厚度等等的 不同，一系列的原始数据的吸收谱记录下来的吸收强度会有所不同， 不具有可比性。为了对这些数据进行比较，需要将它们归一化，统 一成可比数据。  方案：归一化的方案并不唯一，例如可以在边后选取两点，其连 线与吸收边的交点定为1，或者取边后两点，计算这一段数据围成的 面积（以该段数据最低点作x轴平行线为该图形的底），然后找到将 这个图形面积一分为二的横线，定其纵坐标为1，等等。 北京同步辐射装置EXAFS谱分析讲习班，2011 年12月7 －8 日，北京 EXAFS数据处理 扣除边前和归一化 二次多项式 Edge step