中波凝视红外焦平面探测器性能参数的提取-红外技术.PDFVIP

第34 卷 第2 期 红 外 技 术 Vol.34 No.2 2012 年2 月 Infrared Technology Feb. 2012 中波凝视红外焦平面探测器性能参数的提取 段 东，苏晓峰，黄思婕，董玉翠 （中国科学院上海技术物理研究所，上海 200083 ） 摘要：320 ×320 中波凝视红外焦平面碲镉汞探测器是红外相机的关键部件。红外焦平面性能参数的测 试评价是红外探测器发展中的关键技术之一。针对这一情况进行探测器特性评价，定量化获取其性能 参数的精确值显得尤为重要，如探测器的暗电流、响应线性度和非均匀性等。详细叙述了各个性能参 数测试的方法，通过处理标准实验条件下得到的实验数据算出探测器各个参数的精确值。 关键词：红外探测器；暗电流；响应线性度；响应非均匀性 中图分类号：TN215 文献标识码：A 文章编号：1001-8891(2012)02-0084-05 Capturing Parameter Value of the Medium Wave Area Array IRFPA Detector DUAN Dong ，SU Xiao-feng，HUANG Si-jie ，DONG Yu-cui (Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, China) Abstract ：320 ×320 area array medium wave IRFPA detector is manufactured by our institute, the detector is the critical component of infrared camera. Testing and evaluation of IRFPA is one of the key techniques during the development of infrared detectors. So quantificationally catching the detector’s parameter value like dark-current, response linearity and response non-uniformity is crucial. In this article, the test methods and the compute process is described in detail. Key words ：IRFPA detector，dark-current，response linearity ，response non-uniformity 传输共三个模块。在红外探测器的应用中，驱动电路 0   引言  及信息获取系统的质量将直接影响到红外成像系统 近年来随着红外探测技术的发展，红外技术的应 的性能[2] 。针对320 ×320 中波红外焦平面器件，我们 用也日益广泛，尤其在航空航天领域更是占有举足轻 提出了噪声小、功耗低、精度高的信息获取电路设计 重的地位。红外焦平面性能参数的测试评价是红外探 方法，为红外探测系统的高性能测试和设计提供了良 测器发展中的关键技术之一，因此对红外探测器的性 好的基础。 能检测和相关参数测试就显得尤为重要[1] 。 目前对红外焦平面器件的评价参数有暗电流、读 出噪声、响应非均匀性、响应线性度、等。本文重点 介绍中波 320 ×320 红外焦平面探测器的响应非均匀 性、响应线性度两个重要