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SPC统计制程管制技术
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd.
SPC
Technique
统计制程管制技术统计制程管制技术
统计制程管制技术统计制程管制技术
Presented by: Nike Ou Yang
April 7,2005
SPC Technique
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础
SPC Technique
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础
描述变化常用的统计量:
均值X bar= ∑∑ X/n
∑∑
n
众数Mo= L+∆1 *i/( ∆1 +∆1 )
中位数Me= L+(N/2-Sm-1)*i/fm
标准差σ=Rt{[ ∑∑(Xi -Xbar)]/N}
∑∑
SPC Technique
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础(续)
直方图的定义:
将所收集的数据(特性或结果值)在一定
的范围轴上加以区分并将其分成几个
相等的区间 ,依各组的次数, 用柱形表
示的图形.
SPC Technique
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础(续)
直方图的作法:
(1) 找出样本数;
(2) 根据样本数分出组数;
(3) 算出每组之组距与组界;
(4) 根据上述 (1)(2)(3)来设计次数分配表;
(5) 依据次数分配表来绘制直方图.
SPC Technique
Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础(续)
例如: 有如下测定值:
63 60 64 62 63 64
63 62 66 64 60 62
61 65 62 63 66 63
67 64 63 62 65 63
65 61 62 64 63 61
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Amphenol East Asia Technology (Shenzhen) Co., Ltd
一﹑SPC的理论基础(续)
次数分布表:
组别组别 下组界下组界 上组界上组界 组中值组中值 次数次数 累计次数累计次数
组别组别 下组界下组界 上组界上组界 组中值组中值 次数次数 累计次数累计次数
1 59.50 60.50 60.00 2 2
2 60.50 61
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