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测量系统分析（MSA） 冠智达顾问 高级顾问师：郭克永 内 容 概 要 一、基本概念 二、测量系统的变差类型 三、计量型量具双性的分析与研究 —极差法 —均值和极差法 —方差分析法 四、计数测量系统的分析与研究 —小样法 五、测量系统分析的时机与方式方法 一、基本概念 1、量具 2、测量系统 3、测量数据的质量 4、测量过程 5、测量系统的统计特性 1、量具 任何用来获得测量结果的装置；经常用来特指用在车间的装置；包括用来测量合格/不合格的装置（如：塞规）。 2、测量系统 用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、操作人员以及环境的集合，用来获得测量结果的整个过程。 3、测量数据的质量 测量数据的质量用稳定条件下的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性来评价。例如，用在稳定条件下运行的测量系统得到某一特性的多次测量结果，若这些结果与基准值（或真值）都很“接近”，则称这些数据的质量“高”，否则若“远离”其基准值（或真值），则称这些数据的质量“低”。 表征测量数据质量的统计特性是编倚（偏移）和方方差。所谓偏倚的特性，是指数据相对基位值的位置，而所谓方差的特性，是指数据离散程度。一组测量数据远离基准值，或其变差太大，则此测量系统的变差，可能会掩盖制造过程的变差。