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第八章 逻辑分析仪 本章介绍： 1. 数字系统测试的基本原理，包括常用术语、故障模型等数字系统测试和数据域分析的基本概念；数据域测试系统的组成和原理概述。 2. 逻辑分析的主要特点、类型以及它的主要技术指标；逻辑分析仪的基本结构和组成原理；触发与跟踪方式、显示方式和在软硬件测试中的应用方法。 8．1 数据域分析的基本概念 1．数据域测试的特点 与其它测试领域相比，数字系统测试和数据域测试有许多鲜明的特点，例如： 第一，数字系统的响应与激励之间不是简单的线性关系。 第二，随着数字集成电路集成度增长，常常不得不依靠少数外部测试点上所得到的有限测试结果去推断电路内部所发生的复杂过程。 第三，在微机化数字系统中，除了由于硬件故障引起外部信息错乱外，还可能由于软件问题而导致异常输出。 第四，在一个数字系统的某一点上所发生的事件，往往经过若干个内部工作循环以后，才会在另一点或输出端有所表现，甚至可能毫无表现。 第五，由于数字信息几乎都是多位传输的，且数据流往往很长，许多信号仅发生一次，而其中可能只有一位，甚至只在某一瞬时出错，造成故障和出错不易辨认和捕获。 2．几个术语 数据域测试的目的在于：首先，判断被测系统或电路中是否存在故障，此过程称为故障侦查（Fault Detection），也称作故障检测；进一步，如果有故障，则应查明其原因、性质和产生的位置，此过程称为故障定位(Fault Loca