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电子技术实物实验 　　　　　　　　　　　　　　　　　　 第二部分 数字电子技术实物操作实验 实验一 与非门逻辑功能及参数测试 实验目的 熟悉TTL与非门(74LS20及74LS00型)主要技术指标的实际测量方法。 掌握各种TTL与非门的逻辑功能。 掌握验证逻辑门电路功能的测试方法。 掌握门电路闲置输入端的处理方法。 实验仪器及器件 数字逻辑实验箱，万用表，双踪示波器，74LS00、74LS20与非门。 实验内容 1. 认识元件及管脚 观察芯片的外形、引脚排列及各引脚的位置和功能。 芯片管脚号码排列:芯片型号上的字头朝上，一般左边有个半圆形的缺口，缺口下面的管脚为1号管脚，沿着逆时针方向，依次为2，3，4…。如果是14管脚的芯片，下面一排管脚依次为1～7号（从左到右），上面一排依次为8～14号(从右往左)，如图2-1所示。 实验提供两种集成与非门：TTL集成与非门74LS20(4输入端两与非门)、74LS00(2输入端四与非门)，其引脚分配及内部电路图如图2-1所示。 图2-1 74LS00、74LS20引脚及内部电路图 2. 主要指标的测量 (1) 空载导通电流及空载导通功耗 空载导通功耗，是指当与非门空载（输入端悬空）并且输出为低电平时，产生的功耗。