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第 19 卷第 4 期 半 导 体 学 报 . 19, . 4
V o l N o
1998 年 4 月 . , 1998
CH IN ESE JOU RNAL O F SEM ICONDU CTOR S A p r
Si(5, 5, 12) ——一个大元胞的稳定表面
邢益荣
( 中国科学院半导体研究所 表面物理国家重点实验室 北京 100083)
W . 朗克
(德国马普学会弗里茨——哈贝尔研究所 柏林 14195)
D
胡晓明
( 中国科学院物理研究所 表面物理国家重点实验室 北京 100080)
( )
摘要 利用常规的 和高分辨率的 技术研究了标称 337 的 表面原子结
L EED SPA L EED Si
( + ) ( )
构. 经过反复的离子轰击 700 和 1300 退火之后的这种表面形成稳定的 5, 5, 12 晶
eV A r K
( ) ( ) ( ) ( )
面, 即结构周期为 337 + 225 + 337 的有序的原子排列. 这一事实说明: Si 5, 5, 12 是比 Si
( ) 和 图像证实, 稳定的 ( ) ( )
337 更为稳定的晶面. L EED SPA L EED Si 5, 5, 12 表面为 2 ×1 原子
再构, 即沿[110 ]方向的周期是体内结构周期的两倍, 而沿[665 ]方向的周期与体内结构周期相
同. Si(5, 5, 12) - 2 ×1 表面的元胞面积为 0 768 ×5348nm 2 , 这是至今所观察到的最大表面元
胞之一. 结合其它的实验结果, 提出了一个 Si(5, 5, 12) - 2 ×1 的表面原子再构模型.
: 6820, 6114
PACC H
1 引言
( ) [ 1 ]
近年来, 半导体的高指数晶面引起人们的兴趣. 对于 Si, 113 是最稳定的高指数面 .
一般地说, 在半导体的高指数面上, 往往形成一些低指
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