简易半导体极管参数测试仪.doc

简易半导体三极管参数测试仪 F(H)甲1012 作者：汪付强 王斌 马坤 指导老师：姚福安 万鹏 简易半导体三极管参数测试仪 摘 要 本设计以AT89C55WD单片机最小系统为核心，用c51编程，通过多组继电器的组合，可靠地实现了对三极管基极和发射极电流的检测，通过ADC0809和运放组成数据采集电路；由DAC0832和多组继电器组成数控电压源。系统能精确测量三极管交直流放大系数、集电极－发射极反向击穿电压和反向饱和电流。系统所用高压通过倍压电路获得。单片机根据采集所得数据进行处理，并通过液晶对各项参数和输入输出曲线进行显示。在此基础上，用MAX232实现了单片机和PC机的串行数据通讯，使显示更直观准确，并可进行存储打印。 方案论证与比较 根据题目的设计要求，本系统的设计可以划分为以下几个部分，下面对每个设计方案分别进行论证与比较 三极管基极和集电极电压采样电路 方案一：采用在基极和集电极电阻两端直接测电压的方法。用这种方法虽然简单，但是电路复杂，需要多个运算放大器，精确度不高，很难达到题目要求。 方案二：采用在发射极串电阻，直接在发射极测量电流Ice 的方法。这种方案由于电阻两端对地电压较低，便于放大检测。但由于发射极电阻的存在，使基极电位很难确定，不便于基极电阻的选择，对Uce的确定也会带来一定困难。 方案三：用两路数据采集电路分别对基极电压和发射极电阻两端电压进行采样。基极电压经过普通运放组成的同向比例放大电路进行放大后送AD采样。而极电极电阻两端的电压采用高精度低漂移仪用放大器INA126进行放大。若所测三极管为PNP型管，则经过反向比例电路转换成正电压以满足ADC0809采样的需要。 综合考虑，方案三电路结构简单，测量精度较高，故采用方案三。 反向击穿电压测量电路 方案一：通过变压器、三端稳压器等组成可调电压源，实现0—100V电压的连续输出。这种方案输出电压简单易行，但由于高压的检测存在一定困难，且大电流易对电路造成损坏，不宜采用。 方案二：将DAC0832的输出经倍压电路后得到可调高压，通过DA控制逐步增大加在三极管集电极的电压，同时对集电极电流实时检测，当检测到电流发生突变时，记录下此时的DA输出电压值。根据加压倍数即可得到Uceo.这种方法控制容易，便于检测。且倍压电路输出电流小，即使出现误操作也不易对电路造成损坏。综合考虑，决定采用第二种方案。 反向饱和电流测量电路 由于反向饱和电流极小，测量中容易产生较大的误差。测量时用继电器将1M大电阻切入集电极电路，以方便检测，减小误差。 三极管共射极输入输出特性曲线测量 ⑴三极管输入特性曲线的测量方案： 固定电压|VC |=12V,通过DAC0832逐渐增大基极电压,每增大一次电压采集一次电流 iB,记入内存.单片机将采集所得的各项数据处理后，在LCD上输出曲线。 ⑵三极管输出特性曲线的测量方案 通过改变基极电阻,达到题目要求的基极电流。同样通过DA输出改变电压VCE 每当改变一次集电极电压就采集一次电流iC,记入内存,显示输出曲线 。 5. 测量结果显示方案 方案一：把测量所得的参数和特性曲线通过液晶屏显示，这种方案虽然简便易行，但显示精度不高。 方案二：把所有的测量结果送到上位计算机进行显示，显示精度比较高，但不够方便灵活，并且需两个全双工串行接口，实现比较困难。 权衡以上两种方案，我们做了很好的折中，在电路中不仅扩设计了LCD显示，而且扩展了与PC机连接的RS232串行通讯接口，这样使用起来既方便灵活，又提高了精度，而且扩展了数据存储、打印等功能。 二、主要电路工作原理分析与计算 总体设计思路 本系统信息流程图如下: 图2 2. 采样电路设计与放大系数计算 （1）基极集电极电阻大小的选取。 题目要求在Ib=0、10μA、20μA、30μA的条件下绘出共射极输出特性曲线，由于发射极直接接地，在测放大倍数和输出曲线时，基极电压保持+5V（或-5V）不变。取,可计算出三种情况下的基极电阻分别为： 实际应用时，由于用固定电阻很难匹配准确，故选用电位器，将阻值精确调到上述值后再接入电路。电阻之间的切换用继电器实现。 对于集电极，电流一般在1mA—10mA,由于送到ADC0809的电压要在0—5V,电阻两端电压又要经仪表放大器5倍放大，故集电极接一个75电阻，对其两端电压进行检测。同时为保证测量放大倍数时约为10V，集电极再接入一500电阻进行分压，确保在10V左右。 ⑵基极采样电路: 电路图如图3。图中每个继电器一端接+12V电压，一端接一个BJT的集电极，每个BJT的基极由单片机的一个I/O口控