用于BTS天线无源互调电平PIM精准测量的暗室-硬件和射频工程师.PDFVIP

用于BTS天线无源互调电平(PIM)精准测量的暗室介绍 PIM 介绍: 无源互调（Passive Inter-Modulation, PIM）是由天线发射系统中各种无源器件的非线性特性 引起的。在大功率、多信道系统中，由于其大功率特性，使传统的无源线性器件产生较强的非线性 效应，这些无源器件的非线性会产生相对于工作频率的更高次谐波，这些谐波与工作频率混合会产生 一组新的频率，其最终结果就是在空中产生一组无用的频谱（三阶互调产物, 五阶互调产物, 七阶互调 产物… ）,如果这些互调产物落在发射或接收波段区间，并且这些互调产物的功率超过系统中有用信号 的最小幅度, 就会影响正常的通信。所有无源器件由于非线性特性都会产生互调失真，其产生的原因很 多，如机械接触的不可靠、虚焊和表面氧化等。 在 GSM900 通信系统与 3G 通信系统中，随着发射功率的增加，由发射频段产生的三阶互调产 物会落入到他们各自的接收频段。通过以下数学计算可以来验证这个现象 1- 2G GSM 上行/ 下行 [890,915]/[935,960] fPIM3=[910,985] fPIM5=[885,1010] fPIM7=[860,1035] 2- 3G WCDMA / CDMA2000 / TD-SCDMA 上行/ 下行 [1920,2060]/[2110,2170] fPIM3=[2050,2230] fP IM5=[1990,2290] fPIM7=[1930,2350] 从上述计算结果可知，GSM900 与3G 通信系统中，fPIM3/ fPIM5/ fPIM7 均落入到上行的接收频 段。如果在发射频段产生一个-110dBm 的无源互调信号，也就是干扰信号，这可能会给系统带来影 响，因为这个数值已经大于系统中有用信号的最小幅度。 因此当输入功率较小时，由于器件的非线性程度较弱，可以忽略其非线性而近似为线性器件。但 当输入功率很大时，与接收信号相比，非线性因素所造成的影响比较大，就不能被忽略了。随着移动 通信网络的发展，运营商面临数据业务增长过快带来了各种挑战，这些挑战催生了有源基站天线的大 量运用，促使了移动通信系统向更低能耗、更高功率、更宽频带和更高的接收机灵敏度的趋势发展， 无源互调对移动通信的影响已经成为不可回避的重要问题。 有源基站天线参考图片 天线无源互调电平测量系统与测量方法 天线PIM 测量系统应具有以下特点： (1) 大功率信号源：PIM 的测量是大功率测量问题，一般需要以高于工作功率电平2～4 倍的功率 进行测量，微波功率高达上百瓦甚至几千瓦。 (2) 高灵敏度接收机由于PIM 的功率电平一般都非常低，对测量系统的灵敏度要求很高。 (3) 低PIM 组件：PIM 测试系统的组成部件本身必须是高性能、低PIM 的。专用的合成器、定向耦 合器、滤波器等产生的PIM 电平必须控制在被测件PIM 电平的-6dB 以下，连匹配负载都要采用不产生 PIM 的特殊负载，以保证整个测试系统能够正常工作。 (4) PIMP （Passive Inter Modulation Product，无源互调产物）与环境温度有关，并随着时间发生变 化，因此需要进行长时间的温度循环试验。 (5) 此外，PIM 测量系统与频率和带宽的相关性很强，测量系统难以通用，一般需要根据测试目的 进行专门的制作。同时，不仅要测量无源部件的PIM 产物，还要能够对天线和整星进行测量。因此， 如何设计一个低PIM 的测量系统是进行PIM 测量首先必须解决的问题。 天线接收（反射）PIM 测试布置如下图所示 PIM 测试的准确性会受到测试系统外部或内部很多因素的影响。影响天线产品的 PIM 测试结果的 因素包括以下几个方面： a ）暴露在AUT 辐射场中的导电材料； b ）AUT 的安装附件出现松动、损坏或腐蚀； c ）暴露在来自AUT 辐射的射频场中的松动或腐蚀的附件； d ）测试系统外部的无线电射频信号； e ）性能很差的同轴接口电缆； f ）接口连接处存在肮脏、污染、磨损； g ）接口连接不当； h ）射频接口连接屏蔽不善； i ）来自于测试设备的未经过滤的有源互调。 如果条