《X射线衍射与电子显微镜》chap4-多晶体分析方法.pptVIP

优点：闪烁计数器分辨时间短（10-5s)，计数效率高。 缺点：背底脉冲（热燥声）较高，且晶体易受潮而失效。 3. 其它计数器 位敏正比计数器（PSPC）、影像板（IP）、电荷藕合装置（CCD）、Si（Li）探测器等。 三、X射线衍射强度的测量 （1）连续扫描 该法常用于物相定性分析或全谱测量。 使计数管与计数率计连接，测角仪的θ/(2 θ)以1:2的角速度联合驱动，计数管从较低的2θ（≈3o)角开始，并以选定的角速度使之逐渐增高（或从高角到底角）至所需角度 。 （2）步进扫描（阶梯扫描） 该法常用于精确测定衍射峰的积分强度、位置或提供线形分析所需的数据。 使计数器与定标器连接，计数器从起始2θ角按预先设定的步进宽度（例如0.02o）、步进时间（例如5s）逐点测量各角对应的衍射强度（每点的总脉冲数除以计数时间），其结果逐步在计算机上显示并储存，其后可将衍射图输出。 图4-12 步进扫描衍射图 （2）衍射强度公式 衍射仪采用平板试样，在任何位置时，入射角与反射角θ均相等。θ变化时，辐照体积基本恒定，表现为吸收因数与θ无关。 不过在各θ角度下均存在吸收，衍射强度公式中吸收因数一项此时应改为1/(2μl)。 于是，对衍射仪法，单相多晶体的HKL衍射线强度即为： 衍射仪法的特点: 试样是平板状 存在两个圆(测角仪圆,聚焦圆) 衍射是那些平行于试样表面的晶面提供的 接收射线是辐射探测器(正比计数器…) 测角仪圆的工作特点: 试样与探测器以1:2的角速度转动; 射线源,试样和探测器三者应始终位于聚焦圆上 衍射仪法与德拜法的比较 1. 衍射仪记录花样与德拜法的区别： 接收X射线方面-衍射仪用辐射探测器，德拜法用底片感光； 衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝/圆柱。 衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动，逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射。 2. 优缺点对比 德拜照相法是较原始的方法，优缺点为： 摄照时间长，往往需要10-20小时； 衍射线强度靠照片黑度来估计，准确度不高； 设备简单，价格便宜； 在试样非常少的时候，如1mg左右，也可以进行分析，而衍射仪至少要0.5g； 可记录晶体衍射的全部信息，需要迅速确定晶体取向、晶粒度等时候尤为有效。 相比之下，衍射仪法使用更方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，如速度快、强度相对精确、信息量大、精度高、分析简便、试样制备简便等等。 图4-13 对称聚焦照相法 第三节 其他分析方法 一、对称聚焦照相法 聚焦法要求光源、试样以及反射线的聚焦点都在同一个聚焦圆上，图中该圆与相机内腔重合。 常用于点阵参数的测定。 图4-14 背射平板照相法的衍射几何 二、平板照相法（针孔法） 适于研究晶粒大小、择优取向、晶体的完整性等。 此外亦可用于点阵参数的精确测定。 图4-15 弯曲晶体的反射几何 三、晶体单色器 使单晶体的某个反射能力强的晶面平行于外表面，调整与入射线的夹角使满足布拉格关系，就能反射出纯净而强的单色光。 图4-16 纪尼叶相机的衍射几何 练习题：下图为某面心或体心立方结构金属粉末X射线衍射图谱，X射线照射源为Cu Kα（0.154 nm），请确定其结构类型、标定其衍射峰，并估算该金属的晶格常数。 德拜相的测量 计算步骤： （1）从低角区区开始对各弧对标号 （2）测量有效周长C有效 （3）测量并计算弧对间距 （4）计算θ （5）计算d （6）目测法估计各线条的相对强度值I/I1 （7）查卡片 如果物质属立方晶系，尚可用简单的方法标注晶面指数，判别点阵类型和计算点阵参数。 根据布拉格公式2dsinθ=λ，或者sin θ = λ/(2d) ，那么对于立方系： 对于同一底片上同一物质的衍射线条，因为常数，故有： 即掠射角正弦的平方比等于干涉面指数平方和之比。 从结构因数的计算可知，对于简单立方点阵，面指数平方和之比是1:2:3:4:5:6:8:9:10 · · · 体心立方点阵应为2:4:6:8:10:12:14:16:18 · · ·，或者是1:2:3:4:5:6:7:8:9 · · · 面心立方点阵应为3:4:8:11:12:16:19:20:24 · · ·，或者是1:1.33:2.67:3.67:4:5.33:6.33:6.67:8 · · · 按此，在算出sin2θ之连比后，容易判别物质的点阵类型。 立方晶系点阵消光规律 衍射线序号 简单立方 体心立方 面心立方 HKL N N/N HKL N N/N HKL N N/N 1 100 1 1 110 2 1 111 3 1 2 110 2 2 200 4 2 200 4 1.3