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情形三:Cpk的计算公式： 单边规格的过程能力指数 Tu-X X–Tl CPU = ,或 CPL= 3σ 3σ 单边规格:指规格为多少以上(Tl)或多少以下(Tu)的规格. Cpk的常用另一种计算公式： TU-X X–TL Cpk = Min , 3σ 3σ 其中:Min代表取两个数最小的那个;Tu代表规格上限,Tl代表规格下限; X代表平均值;σ代表标准差,通常取近似值:R/d2或S/C4; CPK,PPK,计算公式相似,但是: (1)C系列公式中(且必须在稳态下计算) (2) P系列公式中(不一定是稳态下,如初始研究时) 通常情况下: 10% 接近稳定 10% 20% 不太稳定 20% 50%不稳定 50% 很不稳定 Cpk与Ppk差异解析 首先，工程能力指数（Cpk）与工程性能指数（Ppk）都是对过程满足标准、规范程度的反映。但： ⑴过程能力指数给出的是过程的固有能力，过程固有的能够满足标准与规 范的能力。过程性能指数给出的是根据采集到的数据对当前过程性能的估计。 (2)过程能力指数只有在已经判定过程处于稳态以后才可以通过计算得到； 过程性能指数则无此要求，可以随时反应实时过程的性能。 SPC 二十字方针 发现问题 查找原因 采取对策 予以消除 纳入标准 课程总结 感谢大家的聆听！ 谢谢！ * 点出界：任何超出控制界限的点 连续25个点中有1个点出界； 连续35个点中有超过1个点出界； 连续100个点中有超过2个点出界。 a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种 1、控制限计算错误或描点时描错 。 2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）。 3、过程恶化。 b 低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种： 1、控制限或描点时描错。 2、测量系统已改变或过程性能已改进。 点出界：任何超出控制界限的点 连续25个点中有1个点出界； 连续35个点中有超过1个点出界； 连续100个点中有超过2个点出界。 a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种 1、控制限计算错误或描点时描错 。 2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）。 3、过程恶化。 b 低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种： 1、控制限或描点时描错。 2、测量系统已改变或过程性能已改进。 n 2 3 4 5 6 7 8 A2 1.88 1.02 0.73 0.577 0.48 0.42 0.37 D4 3.27 2.57 2.28 2.12 2.00 1.92 1.86 D3 * * * * * 0.076 0.136 D2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 (5)计算平均值的平均值 。 (6)计算全距R平均值 。 (7)计算管制界限： Ｘ管制图：中心线ＣＬ＝ 上限ＵＣＬ＝ ＋Ａ2 下限ＬＣＬ＝ －Ａ2 Ｒ管制图：中心线ＣＬ＝ 上限ＵＣＬ＝Ｄ4 下限ＬＣＬ＝Ｄ3 　　　　　　（Ａ2 　Ｄ4 　Ｄ3 　可查表） (8)绘管制界限，并将点点入图中。 (9)记入数据履历及特殊原因，以备查考、分析、判断。 X - - R - X - - X - - X - - R - R - R - R - R - A2,D4,D3系数表 单值与移动极差图 （X-R’ chart) 有时，每个数组只有一个测量值，即每