均值极差图(XR图)分析报告.docVIP

均值极差图(X-R图)分析 极差图R 1、受控制的过程的极差 ★存在特殊原因变差 2、不受控制的过程的极差(有超过控制限的点) 解释： 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况的一种或几种： 控制限计算错误或描点时描错； 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分； 测量系统变化（如不同的检具或检验员）； 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种： 控制限或描点错误； 分布的宽度变小（即变好）； 测量系统已改变（包括数据编辑或变换）。 ★链——有下列现象之一表明过程已改变或出现种趋势： 连续7点位于平均值的一侧； 连续7点上升或下降。 3、不受控制的过程的极差 (存在高于和低于极差均值的两种链) 4、不受控制的过程的极差 (存在长的上升链) 解释： 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况的一种或全部： 输出值的分布宽度增加，其原因可能是无规律的（如设备工作异常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（如材料变化），是常见问题，需纠正； 测量系统变化（如不同的检具或检验员）； 低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况的一种或全部： 输出值的分布宽度减小，这常常是一个好状态，应研究以便推广应用和改进过程； 测量系统改变，这会掩盖过程的真实性的变化。 ★其它明显的非随机的图形 5、不受控制的过程的极差 (点离极差均值太近) 6、不受控制的过程的极差 (点离控制限太近) 解释： 各点与极差均值R的距离：一般地，大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，1/3的描点应落在其外的2/3的区域内。 a）如果显著多于2/3以上的描点落在离极差均值R很近之处（超过90％的点落在控制限1/3的区域内），说明存在下列情况的一种或全部： 控制限计算错误或描点时描错； 过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如用几根测量轴每一轴测一个数）； 数据已经过编辑。 b）如果显著少于2/3以下的描点落在离极差均值R很近之处（少于40％的点落在控制限1/3的区域内），说明存在下列情况的一种或全部： 控制限计算错误或描点时描错； 过程或取样方法造成连续的分组中包含从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（如输入的材料批次混淆）。 均值图X 1、受控制的过程的均值 ★存在特殊原因变差 2、不受控制的过程的均值 (有超过控制限的点) 解释： 超出控制限的点通常说明存在下列情况的一种或几种： 控制限或描点错误； 过程已改变，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分； 测量系统变化（如不同的检具或检验员）。 ★链——有下列现象之一表明过程已改变或出现种趋势： 连续7点位于平均值的一侧； 连续7点上升或下降。 3、不受控制的过程的均值 (出现两条高于和低于均值的长链) 4、不受控制的过程的均值 (长的上升链) 解释： 与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两种： 过程均值已改变——也许还在变化； 测量系统已改变（漂移、偏差、灵敏度等） ★其它明显的非随机的图形 5、不受控制的过程的均值 (点离过程的均值太近) 6、不受控制的过程的均值 (点离控制限太近) 解释： 各点与过程均值X的距离：一般地，大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，1/3的描点应落在其外的2/3的区域内。 a）如果显著多于2/3以上的描点落在过程均值X很近之处（超过90％的点落在控制限1/3的区域内），说明存在下列情况的一种或全部： 控制限计算错误或描点时描错； 过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如用几根测量轴每一轴测一个数）； 数据已经过编辑。 b）如果显著少于2/3以下的描点落在过程平均值X很近之处（少于40％的点落在控制限1/3的区域内），说明存在下列情况的一种或全部： 控制限计算错误或描点时描错； 过程或取样方法造成连续的分组中包含从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值（这可能是由于对可调整的过程进行过度控制造成的）。 子组均值X＝ 子组极差R＝Xmax—Xmin 平均极差R＝ 平均均值X＝ n为子组样本容量，K为子组数量 控制限 UCLR＝D4R LCLR＝D3R UCLX＝X＋A2R LCLX＝X－A2R n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.52 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 ※ ※ ※ ※ ※ 0.08 0.14 0.14 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37