HL-2A等离子体破裂期间逃逸电子演化模拟.pdf

第33卷 第 4期 核 聚 变 与 等 离 子 体 物 理 V_oI-33．No．4 2013年 12月 NuclearFusionandPlasmaPhysics Dec．2013 文章编号：0254—6086(2013)04—0297-07 HL．2A等离子体破裂期间逃逸电子演化模拟 吴 娜 ，王中天2，桑超峰 ，张轶泼2，王德真 (1．大连理工大学物理与光电工程学院，大连 116024；2．核工业西南物理研究院，成都 610041) 摘 要：采用数值模拟方法对托卡马克等离子体破裂期问的逃逸电子(RE)演化行为进行研究。程序所使用的 物理模型包含了初级和次级两种 ER 产生机制，并耦合了麦克斯韦方程组。模拟结果显示：在等离子体破裂开始 0．1-0．2ms后感应产生了很强的环向电场，持续约O．1ms之后该环向电场达到最大值，但是在大致2．5ms内逐渐衰 减。同时模拟结果也证明了ER 产生于等离子体中心处的局部区域，并且在破裂之后约 lms时间内就形成了RE 束，实验中等离子体破裂之后出现的几十毫秒的电流平台主要是由ER 携带的。从理论模拟与实验的对比中可以 得出：HL．2A 15335次放电等离子体破裂期间欧姆电流转化为逃逸电流(RC)I~O转化率在 400／o--60％。次级产生机 制在ER 束的形成过程当中起到了关键作用。 关键词：逃逸电子；环向电场；等离子体破裂；HL．2A装置 中图分类号：0532Il 文献标志码 ：A 1 引言 Eriksson等人针对托卡马克等离子体破裂产生的 托卡马克等离-Tq$大破裂发生时，电子温度会 ER 曾经采用了两种不同的模型对 JET进行模拟， 在热猝灭阶段(通常小于 lms)迅速地下降，随后发 得到了破裂之后ER 和环向电场相互作用及其分布 生电流猝灭。通常，在没有逃逸电流(Rc)平台产生 随时间演化物理图像。其中一个物理模型是采用福 的情况下等离子体电流会在短时间内迅速指数衰 克普朗克方程描述相对论电子，用麦克斯韦方程组 减。然而当满足逃逸电子(RE)产生条件时将会出现 描述环向电场，并采用蒙特卡罗和有限元法进行数 一 个平稳的长寿命电流平台，此电流是由RE所携 值求解 ，该程序被命名为 ARENA[5】。另外一个模 带的RC，持续时间为几十至几百ms，这些 RE能 型是将初级产生机制产生率 6【】和次级产生机制产 量可达几十MeV。如果不能有效的抑制 RE，其将 生g．?oj作为描述总的ER 产生率的方程，同时使用 会携带大量热能轰击到第一壁上，从而损伤壁材料 麦克斯韦方程描述环向电场，最后采用有限差分的 的性能，缩短器壁的使用寿命，对装置的安全运行 方法数值求解…121~这两种模型的一个共同点就是 构成严重的威胁。因此，等离子体破裂期间的 RE 不再单独考虑RE的产生过程，将环向电场对其的 研究是 目前磁约束核聚变的主要课题之一。 影响直接耦合进去，从而给出托卡马克等离子体破 等离子体破裂之后出现长寿命平稳电流早在 裂期间RC和环向电场的演化隋况。Eriksson等人 HL1M上就被发现了，而且国外大型装置像欧共体 分别采用以上两种模型对JET中的RE进行了详细 的装~(JET)t。】和 日本的 JT-60U[41也有此现象。 模拟 ，得出了一系列与实验符合得很好的结论。然 收稿 日期：2013—04—16；修订 日期：2013—09—20 基金项目：国际热核聚变实验堆(ITER)计划专项(2013GB109001，2013GB107003)；国家自然科学基金(1l275042)；中国 博士后科学基金(20l2M5206l3，2