应对多样化数字接口测试挑战地解决方案.PDFVIP

应对多样化数字接口测试挑战的解决方案 ——基于可编程 FPGA 的测试仪器 摘 要2 背 景3 可编程 FPGA 的灵活性5 测试应用举例7 总 结 11 参 考 12 摘 要 现今，电子测试工程师面临着大量多样化的数字接口带来的挑战。军事、航空、通信和 汽车电子都同时使用工业标准和定制数字接口。专用特定接口的测试仪器和用于通用数字 I/O 接口的测试仪器可以支持以上大部分接口。专用测试仪器是非常昂贵的，通用数字 I/O 接口 的测试仪器仅试用部分方案并且需要大量编程/调试工作，最终也会增加成本。然而，基于可 编程 FPGA 的测试仪器可以提供成本合理的解决方案 ，并可选通用数字I/O 接口还是专用特 定接口。 本文将概述现代数字测试接口的需求，重点讲解在电子模块和系统的监视和控制中应用 2 越来越普遍的串行数字接口。这些接口包括定制和工业标准版本，例如 SPI、I C、RapidIO、 Ethernet 和 SpaceWire 等。对于高速串行接口，带有特定接口的 SERDES 的使用和功能逻辑 可以提供创建满足需求的测试仪器的基础。本文将会讲述当结合可用的商用 IP （Intellectual Property ）或定制的逻辑单元时，基于可编程 FPGA 的测试仪器如何提供低成本、高灵活性的 测试方案，此种测试仪器解决方案将实现单台仪器支持多种应用和多种接口。 关键字 ：FPGA 数字测试 接口 背 景 当测试工程师考虑如何测试数字接口时，就必须在技术指标需求和方案成本之间进行权 衡。有些公司会选择为特定通信协议测试而设计的专用仪器。或者，选择通用数字 I/O 测试 设备，只要测试工程师付出一些努力就可以用来测试大量协议。除了选择测试仪器，测试工 程师经常通过自行设计电路来实现与被测部件（UUT ）的逻辑系列接口吻合。随着可编程硬 件的到来，尤其是 FPGAs ，测试工程师在测试设备的成本选择方面有了新工具。基于FPGA 的测试仪器使测试工程师可以通过使用商用 IP 内核、自主开发或定制IP 内核构建测试方 案。通过对这些 IP 内核与 FPGA 中额外的寄存器/逻辑的集成，并提供必要的逻辑系列接口 （TTL、LVDS 等），测试工程师可以实现使用单台仪器测试多种接口。 很多公司支持军方客户发展可以测试多种产品的通用测试站。测试站被设计用于测试 “大部分”UUTs。对于测试“大部分”以外的 UUTs ，随着“大部分”以外的UUTs 的数量 和种类的增加，为了完成全部测试，需要使用的测试仪器的数量也会成直线彪升。在通用测 试站中使用可编程仪器，可减少对测试“大部分”以外的 UUTs 的仪器数量甚至不再需要额 外的测试仪器。基于 PXI[1] FPGA 板卡为测试站提供此种解决方案，如图 1。 图 1 一个 FPGA 板卡可以替代多台仪器 每一代新产品的电路复杂性、I/O 密度和信号速率都在持续增高。工厂已经采纳将串行总 线应用在设计中作为一种减少需求最小化 I/O 密度和提高数据传输速率的方法。这些串行总 线应用在 PCBs 布线中，用于连接微处理器和外设、传感器和储存器。在系统中，串行总线 2 被用来控制设备和模块。有很多串行总线可以应用在嵌入式系统设计中，例如 I C、SPI、 Rapid IO 和 PCI Express ，PCI Express 可以通过背板/线缆在板卡或模块之间通信。其他串行 总线，例如 RS-232、RS-485、Ethernet 和 USB ，支持远距离通信。 可编程 FPGA 的灵活性 各式各样的总线应用于电子产品中 ，在特殊行业会应用特殊的总线接口。例如，汽车产 业使用 CAN 总线，军用飞机使用 MIL-STD-1553 总线，商用飞机使用 ARINC-429 总线，空