基于单片机数显电容测试仪设计.pdf

电子质量 (2016第05期) 基于单片机的数显电容溯试仪的设计 基于单片机的数显电容测试仪的设计 DesignofCapacitanceMeterBasedonSCM 赵巧妮 (湖南铁道职业技术学院，湖南 株洲412001) ZhaoQiao-ni(HunanRailwayProfessionalTechnologyCollege，Hunan Zhuzhou412001) 摘 要：基于AT89S51单片机和555定时器芯片设计的数显式电容测量仪，由555芯片和电容电阻组成 振荡电路来输出矩形波 ，通过单片机定时器T0测量其脉冲宽度，从而达到测量其周期的目的，再通过 单片机软件编程 ，对数据进行进一步的计算从而得出被测电容的值 ，并通过液晶LCD1602显示出其测 量的电容值。经过试验验证 ，该设计的硬件设计和软件设计都相对简单，成本较低。 关键词：AT89S51；电容测量仪；555；简单 中图分类号：TP319 文献标识码：A 文章编号：1003—0107(2016)05-007I-04 Abstract：ThedigitalcapacitancemeterisdesignedbyAT89S51microcontrollerand555chip．A rectangu- larwaveisgenerated intheoscillationcircuitwith555chip、capacitorsandresistors．Thepulsewaveisput intotimerTOofSCM tomeasuretheperiod．TheperioddataiscalculatedthroughtheSCM softwarepro— grammingtoachievethevalueofthemeasuredcapacitanceandthevalueofcapacitanceisdisplayedon LCD1602LCDThehardwareandsoftwareofthedesignissimpleandlowcostbytest． Keywords：AT89S51；CapacitanceMeter；555；Simple CLCnumber：TP319 Documentcode：A ArticleID：1003—0107(2016)05—0071—04 0引言 电容 c充电，当电容C上冲得的电压大于等于 r，+时， 电容是常用的最基础的电子元器件之一，但是电容 施密特触发器翻转变为低电平 ；电容c又通过R放电 的测量不太便捷 。因为常见的数字万用表没有电容测试 下降到 时施密特触发器又翻转输出变为高电平 ， 档位，即使有电容测试档位也是只能测试很窄的电容范 如此往复产生振荡波形，如图2所示。 围，使用不方便。而专用的电容测试仪价格较贵，所以专 由理论分析 ，设 555输出的矩形波周期为 r，，设充 用的电容测试仪并不如万用表那般普及。为了克服上述 电时间周期为 和放电时间周期为 ，则有： 两者的不足，本论文设计一款基于单片机测量较宽范围 = 0．7 1+R2)C (1) 的简易数字万用表 lJ【。 = 0．7RzC