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使用序列门控在扫描位移中实现强大的 时序闭合 （专题文章，2011 年3 月2 日） 作者：Amol Agarwal 和Abhishek Mahajan，飞思卡尔半导体公司 如今，所有SOC 都使用扫描结构来检测设计中的任何制造缺陷。扫描链专为测试 而设计，按串行形式连接芯片的时序元件。由于扫描元件之间缺 少组合逻辑， 因此这些扫描链容易出现保持故障。除了采用小于90 纳米的技术外，OCV （片上 工艺偏差）对时序裕量有着巨大的影响。因此，除非设计在多个拐 角处实现时 序签核（sign-off），否则极有可能出现保持故障，尤其是在扫描链等保持关键 路径上。这些保持故障会导致芯片无法在实际的应用中使用（即 便芯片能够在 功能场景中完全运行也会如此）。如果芯片中出现这些故障，将会降低成品率， 影响产量，由此导致设计公司蒙受巨大的经济损失。因此，我们需要设 计一个 强大的扫描结构来解决上述问题。 在本文中，我们将首先快速回顾锁存器与触发器的时序基本概念。在下一节中， 我们将介绍扫描链以及与其相关的时序闭合问题。然后，我们将解 释如何在扫 描链中使用锁存器和触发器创建强大的扫描结构，以避免在小于90 纳米的技术 中出现时序故障。我们将介绍最优秀的解决方案，满足扫描链中所有可能 出现 的时序元件组合的时序要求。 建立/保持时序概述 触发器和锁存器是时