集成电路可测性原理和设计浙大微电子学院·微纳电子研究所.pptVIP

* 浙大微电子 */26 Y = CC1(Y) = CC0(X1) + CC0(X2) + 1 CC0(Y) = min[ CC1(X1), CC1(X2) ] + 1 CO(X1) = CC0(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC0(X1) + CO(Y) + 1 “或非”门测试因子的计算 * 浙大微电子 */26 一个简单组合逻辑的测试因子 对于原始输入I和原始输出O CC0( I ) = CC1( I ) = 1 CO(O) = 0 Y = CC1(Y) = CC0(X1) + CC0(X2) + 1 CC0(Y) = min[ CC1(X1), CC1(X2) ] + 1 CO(X1) = CC0(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC0(X1) + CO(Y) + 1 Y = CC1(Y) = min[ CC0(X1), CC0(X2) ] + 1 CC0(Y) = CC1(X1) + CC1(X2) + 1 CO(X1) = CC1(X2) + CO(Y) + 1 CO(X2) = CC1(X1) + CO(Y) + 1 * 浙大微电子 */26 测试因子值 * 浙大微电子 */26 增加I/O端口降低测试因子值的方法 当某结点X的可观察因子CO(X) 过大时,