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- 2017-12-01 发布于湖北
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雷射干涉儀之運用 - 2 * 雷射干涉儀之運用 - 3 * 雷射干涉儀之運用 - 4 * 雷射干涉儀之運用 - 4 * 雷射掃描儀 藉由掃描技術來量測工件尺寸及形狀。 L = V?ΔT L:待測工作尺寸(長度) V:掃描之線速度 ΔT:光數被擋住時間 * 雷射掃描儀之運用 - 1 * 雷射探頭 當某一平行單色光束照射工作表面上,某一部份光束沿反射角反射,因工件表面粗糙度對光束影響很大,可區分鏡射式反射和散射式反射。 鏡射式: 1.正規式 2.散射式 * 雷射探頭 (散射式) * 雷射探頭之運用 * 雷射都卜勒位移器 * 雷射都卜勒位移器之運用 * 雙雷射光束量測位移與俯仰角度 * 雙雷射光束量測之運用 * * 精密量測第九章 光學儀器在精密量測上之應用 主講人 覺文郁 教授 簡 介 光學儀器應用於精密量測上相當多,光源包含一般光源和單色光源兩種。 一般光源:自動視準儀、光學投影機、工具顯微鏡、光學尺、測長儀、光學塊規比測儀、電子高度規、和光學分度頭等均用光學原理作為量測的基礎。 單色光源:光學平板、氦氖燈、雷射塊規比測儀、雷測準直儀、雷射掃瞄儀和干涉儀均利用單色光源的特性,以提昇精密度。 * 光學投影機 (Profile projector) 光學投影儀是應用放大作用,可做長度、角度、形狀、表面等檢驗工作。屬非接觸式、二次元量測,由器適合
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