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无源互调失真测量和分析  ——无源互调分析仪简介 内容提要 无源互调的产生 无源互调测量原理 无源互调分析仪介绍 无源互调分析仪测量(PIM)方法 分析仪的噪声电平和残余互调电平 测量不确定度及测量结果的表示 测量示例介绍 一、无源互调的产生 无源互调(PIM)的概念 当两个或两个以上频率的射频信号功率同时出现在无源射频器件中，就会产生无源互调(PIM)产物。这种产物是由于异质材料连接的非线性特性而产生的混合信号。典型情况是，它的奇次阶产物(例如 IM3=2?F1-F2)可能恰好落在基站的上行或接收波段内，就会对接收机形成干扰，严重时可能使接收机无法正常工作。所以抑制互调干扰是很重要的。 1、无源互调产生的原因 射频器件产生无源互调(PIM)的主要原因有： 1、在射频路径上有劣质的机械接头、接点或安装松动等。 2、在射频元件的制造中使用了某种程度的磁滞材料(例如不锈钢等)。 3、在射频路径的接触内表面或接头处有异质污染物，如残留的焊剂或材料加工的颗粒。 在综合的基站内，大功率放大器和接收机滤波器之间的任何无源器件都会产生一定的无源互调电平。基站天线塔的安装环境也会产生PIM，例如天线附近有金属物体的直接反射波束传送到天线。 2、无源互调传输和反射方向 二、无源互调测量原理 无源互调的计算公式 三、无源互调分析仪介绍 接线图 原理图 无源互调分析仪的两种显示 测量工作方式 工程测量模式 生产测量模式 无源互调分析仪在工程测量模式 下的三种测量模式 1、频谱模式 2、带状记录图模式 3、扫频模式 1、频谱模式 无源互调分析仪的频谱测量模式能显示落入分析仪测量频带内的IM产物。 例如，落入测量频段内的IM3(三阶互调产物)、IM5和IM7这三个IM产物能同时被显示并读得测量值。 可观察分析它们的相互关系，还可用手动方式分别调谐无源互调分析仪的频率和功率来观察它们相互间的变化关系。 测试装置缺省设置 2、带状记录图模式 无源互调分析仪的带状记录图模式能测量显示互调响应随时间变化的情况。 它能显示落入测量频段内的所有互调产物。 尤其是能用于观察周围环境或机械压力随时间变化时的IM变化。 3、扫频模式 无源互调分析仪的扫频测量模式能测量不同频率对下的互调响应。 在该模式下分析仪进行二次扫频测量。首先F1频率设置在频带的低端，F2频率设置在频带的高端，然后F2频率从高扫到低进行一次扫频；然后F2频率保持不变，F1频率从低扫到高完成二次扫频。 该测量是最有价值的测试模式，它同只用二个固定频率测量相比较，能发现更多的互调问题。 扫频后落入接收频带的IM频率 扫频时改变测量功率电平 测量三阶互调时，PIM分析仪输出的功率电平为： 2 ? Carrier 1 + 1 ? Carrier 2 若二个载波电平同时都增加1 dB，则理论上PIM电平：IM3增加3 dB ( 2 ? 1 + 1 ? 1 )；IM5增加7dB ( 4 ? 1 + 3 ? 1 )，但在实际测量中比较罕见这样的增加比率。 1、分析仪的噪声电平 噪声电平是在PORT 1和PORT 2接50Ω负载和射频源信号关闭时，互调分析仪测量出的噪声信号电平平均值。 该噪声电平是接收机的高增益放大器耦合噪声，包括本地振荡器相位噪声、 ( kTBF )接收机前置放大器的随机噪声门限和发射机噪声等合成产生。 2、分析仪的残余互调电平 残余互调电平是在测试端口接低互调电平的负载时，分析仪测量出的互调电平。 残余互调电平是分析仪系统内部的传输电缆线、连接器、滤波器和双工器等产生的。一般三阶残余互调电平大于接收机的噪声电平。 残余互调电平一般要求不超过-120dBm。 3、测量平均功能的选择 选择不同的平均水平，可在分辨率带宽、接收机灵敏度和扫频测量速度之间取得最佳的均衡。 选择平均功能不能降低残余互调电平，只能降低接收机的噪声电平。 1、测量的不确定度 在实际测量中，当被测件( DUT )的实际IM 电平接近于分析仪的残余IM电平时，由于两者的矢量合成，这时IM电平的测量不确定度就会变大。 降低测试系统的残余IM电平可以用高质量的耦合器、滤波器和精密的架构及低PIM电缆连接。 为了提高IM电平的测量精度，接收机的残余互调电平至少要求比测量的最小无源互调（PIM）电平低10 dB以上。 根据实际测量的互调电平与系统的残余互调电平之差值，可从图表查得最大的测量不确定度分量，它是主要的测量不确定度来源之一。 2、典型