现代材料分析技术-黎兵.pptVIP

现代材料分析技术 任课教师：黎兵 序言 现代材料分析技术主要涉及到对材料的组成、结构及微观形貌的测试和分析。 本课程有八章，分别讲述八个不同的现代材料分析技术，即八个不同的精密分析仪器。 本课程讲述的八个不同的精密分析仪器即分别涉及到材料的组成、结构及微观形貌的测试和分析这三大部分。 材料结构表征的基本方法 分为：成分分析、结构测定和形貌观察。 1）成分分析：除了传统的化学分析技术（原子发射、原子吸收谱）外，还包括质谱、紫外及可见光、红外谱、色谱、核磁共振、X射线荧光谱、俄歇与X射线光电子谱、电子探针、原子探针、激光探针等。 2）结构测定：以衍射法为主，如X射线衍射、电子衍射、中子衍射、穆斯堡谱、?射线衍射等。 3）形貌观察：主要依靠显微镜。光镜（LM）、透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）。 其中，原子发射光谱、原子吸收光谱法主要是对材料的组成进行分析；紫外及可见分光光度法、红外光谱法、激光拉曼光谱法、质谱分析主要是对材料的组成、结构进行分析；透射电子显微术、扫描电子显微术则是对材料的微观形貌进行显微测试和分析。 对每一个仪器，我将大致按五个部分介绍： 一、基本原理二、仪器简介三、试样要求 四、结果分析 五、应用 参考书： 1.《现代仪器分析》（上、下），清华大学出版社 2.《精密分析仪器及应用》，（上、下），四川科学技术出版社 3.《材料结构表征及应用》，面向21世纪课程教材，化学工业出版社。 第六章 透射电子显微技术 了解仪器的结构，掌握基本原理、相关术语等。 引言 肉眼可见（大于0.2mm）——宏观形态 光镜（LM）可见（小于0.2mm，大于200nm）——微观形态 光镜不可见（小于200nm ）——超微观 形态: a)透射电镜（TEM） b)扫描电镜（SEM） 显微技术的相关术语 放大倍数：M=成像大小/实物大小 分辨本领：显微镜能分辨的物体上两条线（或两点）之间的最小距离（最小分辨距离）的倒数（线数/mm）。习惯上，多用最小分辨距离来表示分辨本领。 放大倍数和分辨本领的关系：Me=肉眼分辨本领/仪器分辨本领 光镜的最高有效放大倍数约为：Me=0.2mm/200nm=1000（倍） 光镜的分辨本领的限制 为什么光镜的分辨本领只能达到200nm ？这是由于光波的衍射现象所限制的。 根据“瑞利”判据，当A、B两点靠近到使像斑的重叠部分达到各自的一半时，则认为此两点的距离即是透镜的分辨本领；由此得出显微镜的分辨本领公式（阿贝公式）为：d=0.61?/(N?sin?)，其中， N?sin?是透镜的孔径数（简写为N ?A ），常于镜头上标明，其最大值为1.3。因此，上式可近似化简为：d=0.5 ? 光镜采用的可见光的波长为400~760nm。 原子的大小 原子不是刚球。通常所讲的原子的大小是指原子的有效作用范围。最轻与最重的原子的半径差异并不大。让我们来估算一下原子的大小： 已知，石墨的密度?=3.5g/cm3 ，1mol石墨的体积V=12/3.5(cm3 /mol)， 1mol石墨所含的C原子数为N0=6.02?1023 所以，单个 C原子的体积=V/ N0=5.7 ?10-24cm3, C原子的半径约为1.17?=11.7nm=1.17 ?10-10m 波粒二象性 1924年，德布洛依提出了微观粒子具有二象性的假设，后来由汤姆生父子用电子做实验证实。 德布洛依的假设认为——质量为m,速度为?的微粒的德布洛依波的波长是： ?=h/m? 相关公式： E=h? (波动性)，E=mc2(粒子性) 初速度为0的电子，受到电位差为V的电场加速，根据能量守恒原理，电子获得的动能为：0.5m?2=ev , ? ?=(2ev/m)1/2, 代入?=h/m?，得：?=h/(2mev)1/2 考虑到相对论效应， ?=h/[2m0ev(1+ev/2m0c2)]1/2,式中m0为电子的静止质量。 上式的近似公式： ?=(150/v)1/2 加速电压与电子波长 加速电压(kv) 电子波长(?) 相对论修正后 的电子波长(?) 1 0.3878 0.3876 10 0.1226 0.1220 50 0.0548