磁控溅射制备Ti-Zn-O复合薄膜及其光学性质研究.pdfVIP

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  • 2018-05-09 发布于福建
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磁控溅射制备Ti-Zn-O复合薄膜及其光学性质研究.pdf

第37卷第1期 长春理工大学学报 (自然科学版) V0l-37 N0.1 2014年2月 JournalofChangchunUniversityofScienceandTechnology (NaturalScienceEdition) Feb.2014 磁控溅射制备TIlZn—O复合薄膜及其光学性质研究 朱明海,陈广彬,冯禹,龚楠 ,汪剑波 (长春理工大学 理学院,长春 130022) 摘 要:TiO是作为一种宽禁带半导体材料可作为紫外器件,但因其间接带隙结构、禁带宽度仅为3.0eV等特点,严重影 响其应用范围。本文利用共溅射技术,通过zn掺杂,在K9玻璃基底上制备 了Ti—zn—o复合薄膜,并研究了zn溅射功率 对其结构及光学性质的影响。结果显示:所制备的薄膜为ZnTiO。和不饱和TiO。的复合结构,随着zn粒子的溅射能量增 加,晶粒尺寸和表面粗糙度增加,并可将薄膜本征吸收边蓝移至3.61eV。 关键词:磁控溅射;掺杂;复合薄膜;禁带宽度 中图分类号: 0484.1 文献标识码:A 文章编号

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