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实验一 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)特性与驱动电路研究 一．实验目的： 熟悉IGBT开关特性的测试方法； 掌握混合集成驱动电路EXB840的工作原理与调试方法。 二．实验内容 EXB840性能测试； IGBT开关特性测试； 过流保护性能测试。 三．实验方法 1．EXB840性能测试 （1）输入输出延时时间测试 IGBT部分的“1”与PWM波形发生部分的“1” 相连，IGBT部分的“13”与PWM波形发生部分的“2”相连，再将IGBT部分的“10”与“13” 相连，与门输入“2”与“1”相连，用示波器观察输入“1”与“13”及EXB840输出“12”与“13”之间波形，记录开通与关断延时时间。 ton= ，toff= （2）保护输出部分光耦延时时间测试 将IGBT部分“10”与“13”的连线断开，并将“6”与“7”相连。用示波器观察“8”与“13”及“4”与“13” 之间波形，记录延时时间。 （3）过流慢速关断时间测试 接线同上，用示波器观察“1”与“13”及“12”与“13”之间波形，记录慢速关断时间。 （4）关断时的负栅压测试 断开“10”与“13”的相连，其余接线同上，用示波器观察“12”与“17”之间波形，记录关断时的负栅压值。 （5）过流阀值电压测试 断开“10”与“13” 的连接，断开“2”与“1”的连接，分别连接“2”与“3”，“4”与“5”，“6”与“7”，分别将主回路的“3”与“4”和“10”与“17”相连，即按照以下表格的说明连线。 IGBT：17 主回路：4 IGBT：10 主回路：3 IGBT：4 IGBT：5 IGBT：6 IGBT：7 IGBT：2 IGBT：3 IGBT：12 IGBT：14 将主电路的RP左旋到底，用示波器观察“12”与“17”之间波形，将RP逐渐向右旋转，边旋转边监视波形，一旦该波形消失时即停止旋转，测出主回路“3”与“4”之间电压值，该值即为过流保护阀值电压值。 2．开关特性测试 （1）电阻负载时开关特性测试 将“1”与“13”分别与波形发生器“1”与“2”相连，“4”与“5”，“6”与“7”，‘2“与”3“，“12”与“14”，“10”与“18”， “17”与“16”相连，主回路的“1”与“4”分别和IGBT部分的“18”与“15”相连。即按照以下表格的说明连线。 IGBT：1 PWM：1 IGBT：13 PWM：2 IGBT：4 IGBT：5 IGBT：6 IGBT：7 IGBT：2 IGBT：3 IGBT：12 IGBT：14 IGBT：17 IGBT：16 IGBT：10 IGBT：18 IGBT：15 主回路：4 IGBT：18 主回路：1 用示波器分别观察“14”与“15”及“16”与“15”的波形，记录开通延迟时间。 （2）电阻，电感负载时开关特性测试 将主回路“1”与“18”的连线断开，再将主回路“2”与“18”相连，用示波器分别观察“14”与“15”及“16”与“15”的波形，记录开通延迟时间。 （3）不同栅极电阻时开关特性测试 将“12”与“14”的连线断开，再将“11”与“14”相连，栅极电阻从R5＝3kΩ改为R4=27Ω，其余接线与测试方法同上。 3．并联缓冲电路作用测试 （1）将IGBT部分的“18”与“19”相连，IGBT部分的“17”与“20”相连。 （2）电阻负载，有与没有缓冲电路时观察“14”与“17”及“18”与“17”之间波形。 （3）电阻，电感负载，有与没有缓冲电路时，观察波形同上。 4．过流保护性能测试，栅计电阻用R4 在上述接线基础上，将“4”与“5”，“6”与“7”相连，观察“14”与“17”之间波形，然后将“10”与“18”之间连线断开，并观察驱动波形是否消失，过流指示灯是否发亮，待故障消除后，揿复位按钮即可继续进行试验。 四．实验报告 绘出输入、输出及对光耦延时以及慢速关断等波形，并标出延时与慢速关断时间。 绘出所测的负栅压值与过流阀值电压值。 绘出电阻负载，电阻电感负载以及不同栅极电阻时的开关波形，并在图上标出tON 与tOFF。 绘出电阻负载与电阻、电感负载有与没有并联缓冲电路时的开关波形，并说明并联缓冲电路的作用。 过流保护性能测试结果，并对该过流保护电路作出评价。 实验二 三相桥式全控整流电路实验 一．实验目的 1．熟悉三相桥式全控整流电路的接线及工作原理。 2．了解集成触发器的调整方法及各点波形。 二．实验内容 1．三相桥式全控整流电路 2．观察整流或逆变状态下，模拟电路故障现象时的波形。 三．实验方法 1．按图接线，未上主电源之前，检查晶闸管的脉冲是否正常。 （1）主电路未通电，接通MCL一32T电源控制屏的“低压直流电源