应用介质阻挡放电蒸汽发生-原子荧光仪直接测定固 .docVIP

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2018-02-20 发布于天津
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第一作者电话低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞杨萌薛蛟李铭李佳黄秀邢志清华大学化学系北京北京理工大学生命学院北京摘要建立了低温等离子体与原子荧光光谱仪联用直接检测固体样品中汞的方法此实验中采用介质阻挡放电方式产生低温等离子体剥蚀固体样品后产生的元素蒸汽引入到原子荧光光谱仪进行检测所采用的优化条件包括外接电源的放电功率为放电气体流速为采样距离为以及原子荧光光谱仪的原子化器高度为本系统测定的检出限为线性范围为精密度为并对标准样品以及实际样品进行测定测定结果与标准值与及一致表明此方法可作

第一作者电话低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞杨萌1，薛蛟1,2，李铭1,2，李佳1，黄秀1，邢志1* (1 清华大学化学系，北京，100084) （2 北京理工大学生命学院，北京，100081) 摘要建立了低温等离子体(Low Temperature Plasma)与原子荧光光谱仪(Atomic?Fluorescence?Spectroscopy?)联用直接检测ABS固体样品中汞(Hg)的方法。此实验中采用介质阻挡放电（DBD）方式产生低温等离子体，剥蚀固体样品后产生的元素蒸汽引入到原子荧光光谱仪进行检测。所采用的优化条件包括DBD外接电源的放电