Nand_bbtc详细分析.doc

Nand_bbt.c详细分析 类别：技术类 Nand_bbt.c详细分析 check_pattern(uint8_t *buf, int len, int paglen, struct nand_bbt_descr *td) 如图1：在buf内的B段寻找pattern匹配。如option有NAND_BBT_SCANEMPTY, 则在A，C段还要全为0xff才判为匹配上 0: 匹配上， -1: 匹配不上 图1 check_short_pattern(uint8_t *buf, struct nand_bbt_descr *td) 如图2：在B段内看是否匹配td-pattern 0: 匹配 -1：不匹配 图2 read_bbt(struct mtd_info *mtd, uint8_t *buf, int page, int num, int bits, int offs, int reserved_block_code) 每个block用bits个比特来表示好坏（一般bits = 2）, 一共要读num个block的标志位，即一共要读(num * bits)/8字节bbt，从第page页开始从flash里读，并根据读得的值来修改this-bbt[offs] ~ this-bbt[offs + (num * bits)/8]。reserved_block_code为bbt保留块标志。要注意flash里的bbt标志值和this-bbt[]里的值（memory_bbt）代表的含义相反，如上述。 read_abs_bbt(struct mtd_info *mtd, uint8_t *buf, struct nand_bbt_descr *td, int chip) option NAND_BBT_NRBITS_MSK = 每个block用多少个bit来表示好坏块，默认值为2 if(NAND_BBT_PERCHIP) { if(chip == -1) { 调用td-numchips次read_bbt,分别从第td-page[0],td-page[1],...,td-page[this-numchips -1]页读取chipsize/bbt_erase_shift个block的好坏块值，并修改this-bbt[]，如图3 } else { 从第chip个flash的第td-page[chip]个页，调用read_bbt，读得bbt值并修改thi-bbt对应部分，如只执行图3中的一个虚线部分 } } else { 执行图3中第0号flash的read_bbt操作，从td-page[0]页开始读 } 图3 scan_read_raw(struct mtd_info *mtd, uint8_t *buf, loff_t offs, size_t len) 调用mtd-read_oob, mode = MTD_OOB_RAW，从flash的offs地址开始读len个byte到buf里，包括OOB scan_write_bbt(struct mtd_info *mtd, loff_t offs, size_t len, uint8_t *buf, uint8_t *oob) 调用mtd-write_oob, mode = MTD_OOB_PLACE read_abs_bbts(struct mtd_info *mtd, uint8_t *buf, struct nand_bbt_descr *td, struct nand_bbt_descr *md) if(td-options NAND_BBT_VERSION) { 调用scan_read_raw,从flash的td-page[0]页及其OOB读到buffer，并修改td-version[0] } if(md (md-options NAND_BBT_VERSION)) { 调用scan_read_raw,从flash的md-page[0]页及其OOB读到buffer，并修改md-version[0] } 调用完这个函数，如果md存在并且有NAND_BBT_VERSION，则buf里是mirror_bbt的内容，否则如果td有NAND_BBT_VERSION，则buf里是main_bbt的内容, 否则不做任何操作。 scan_block_full(struct mtd_info *mtd, struct nand_bbt_descr *bd, loff_t offs, int8_t *buf, size_t readlen, int scanlen, int len) 调用scan