TICT中圆形工件截面的散射修正项计算‘.PDFVIP

2OO2年 10月 重 庆 大 学 学 报 Oct．2002 第25卷第1O期 Journal of Cho,cq~ University V01．25 No．10 文章编号：1000—582X(Z002l10—0078—03 TICT中圆形工件截面的散射修正项计算‘ 王银峰，杨 学恒 (重庆大学数理学院，重庆4OOO44) 摘 要：透射式7射线ICT采集系统所获原始数据中，包含有Compton散射光子的计数，在探测器较 少时，常采用加后准直器的方法来控制散射光子进入探头，但在实时测量的ICT中，由于探头数较多，加 后准直器将受到空间的限制。笔者拟采用让ComptOil散射光子与透射光子一并进入探测器，再从探测器 总的计数中将散射光子减除。并建立了透射式ICT康普顿(Compton)散射针对圆形截面工件的数学模 型，并给出了相应的修正公式以及散射修正的程序设计原理。 关键词：ICT；散射修正；数学模型 中图分类号：，Ⅲ798 文献标识码：A 透射式工业CT(TICT)设备是利用7射线或x射 dn ： ds／r ， 线在无损状态下非接触检测的先进装置。探测结果以 ds= rdOAh 图象形式显示被测物体的尺寸形状、材质缺陷等等。 其中，0、ds、Ah分别为源强，截面元与断层厚度， 通过图象的灰度反映材质的密度，分辨出缺陷的大小、 于是到达口点的dn 内的光子数： 位置和性质等。因此，提高成象质量是研究和推广应 用ICT的关键。 dI 。 dIoexp【一I ( m)dm J 在目前投入实用的TICr机中，常常采用很深的铅 由口点处的d 发出并射向对应于ggj个探头的立体角 准直器来压低Compton散射光子和本底。这不仅限制 元dn 内的散射光子数： 了探测器的布局和数量，不利于向实时测量过渡，而且 d，， =dlofdr·n(r，0)·d (Ey， )／dn·dnD 也不能从根本上消除散射光子的影响。 dnD= Ahdq~j／y 如果去掉后准直器，有用信息连同散射光子必定 Y=[R+L—rCOS( 一0)]／cos( +0一 ) 一 起进入探头形成伪影，即使使用甄别器也难以消除， dV=△hrdrdO 因此必须进行散射修正。 式中d (E ， )为Compton散射微分截面，n(r，0)为 1散射修正的数学模型及修正项推导 工件的电子密度。注意到末态光子的能量 为散射 角 的函数，根据相互作用过程中应满足的守恒定律 光子的二次散射截面约为其一次散射截面的 1O 倍…，故只考虑一次散射。在ICT中如要获得 M 可以得出： ×N阵列的断面图象，则应有 M个等效探头，如令工 E 7=E0eE7／[E0e+E7(1一COS )] 件自转，则需要用轴角编码器将圆周等分成 N个分 d g] ：一警2B(c0s2 一鲁+彘) ＼ 一 0e／ 度。假设在t—t+df内工件处于第Z个分度 ，Z=1， 2，……J7、7。 B=[E0e+E7(1一cos~j)] 令某束 射线沿r射人工件，在点 a处的dV体