一种去嵌入射频测量技术.PDFVIP

一种去嵌入射频测量技术 黄成 吴建辉 陆生礼 时龙兴 （东南大学电子工程系，南京，210096） 摘要：去嵌入是一种射频微波精确测量技术。本文介绍了一种新型的去嵌入测量技术。该方法只需要一个 对称的直通微带结构就能完成去嵌入。最后利用该方法对0603封装的电感进行了测量，并提取了精确测量 后的电感模型。结果表明本去嵌入方法可以应用于射频PCB上器件模型的精确测量和模型提取。 关键词：夹具测量 去嵌入 双端口网络 S参数 中图分类号:TP353 A De-embedding RF Measurement Technique Huang Cheng, Ye Rong-Fang (Southeast University, Electronic Engineering Department, NanJing, 210096) Abstract ：De-embedding was one of the precision RF and microwave measurements. The objective of this research was to present a novel de-embedding technique. This method was unique in that one single symmetric THRU de-embedding structure was required. A 0603 inductor was measured and the extrinsic model of this device was extracted using this method . The results indicate this new technique is useful in RF PCB devices measurement and modeling. Keywords : fixture, de-embedding, two ports network, S parameters 1 引言 无源的表面贴装器件（SMD）被广泛的应用到射频电路设计中。目前有很多基于网 络分析仪测量的 PCB 模型提取的方法【4 、5 】，但一般的网络分析仪只具有同轴的接口， 不能直接测量无源贴片元件，所以测量时必须要制作一个从同轴到微带的夹具。去除夹 具在无源贴片元件测量中影响成为 PCB 板级模型提取精确的关键。目前去除夹具的方法 主要有电延时法、网络分析仪端口延伸法、归一化法、时域栅法、去嵌入法、SOLT 校准 法、TRL 校准法等【1、2、3】，各种方法在制作难易度和测量精确性上各有优缺点。本 文中介绍了一种基于去嵌入方法的测试方法，在网络分析仪已有 SOLT同轴校准件的基 础上，只需要简单的一个直通微带校准件，通过矩阵运算就可以进行精确的去嵌入。 2 去嵌入原理 图 1 为 SMD 测试夹具，夹具的特性包括左右两个微带连接线和左右两个同轴至微 带的转接头的特性。一般使用仪器的同轴测试校准件，可以将仪器校准至同轴接口端， 校准后的测试面成为测量平面，而 SMD 器件放置的平面称为器件平面，但是利用同轴 校准件校准后直接测量 SMD 器件的特性中还包括了夹具的特性。 【 】 图 1 SMD 器件测试夹具 1 利用两端口 S 参数信号流图，考虑测试系统正向反向 12 项矢量误差模型，对测试 夹具进行建模，得到正向误差模型和反向误差模型（图 2 ）。模型中包括测试系统矢量误 差、左右夹具误差和被测器件(DUT)特性。通过网络分析仪的机械校准件，就可以消除 12 项矢量误差。假设 DUT 左边夹具、DUT 、右端夹具的双端口 S 参数特性分别为 ⎡FA11 FA12 ⎤ ⎡S11 S12 ⎤ ⎡FB11