光弹1偏光弹性仪量测简介-Mipaper.PDF

13/11/29 光 光彈 ７．１　偏光彈性儀量測簡介 ７．２　光彈量測理論 ７．３　光彈檢測實務 ７．４　光彈於機械工業量測上之應用 ７．１　偏光彈性儀量測簡介 一 、偏光彈性儀歷史背景 1816年 David Brewster 發現雙折射的基本現象及偏光原理 ，1853年 J.C.Maxwell 提出 應力－光學定律的關係式 ，到了1930年 ，E.G.Coke$= 和L.N.G Filon出版有關光彈學的專書 ， 將光彈技術應用於工程領域 ，1936年George Oppel用光彈技術分析三維結構 ，經過許多學者的 研究努力 ，光彈技術的可信度已為世人所肯定 ，並且它的應用範圍也日漸廣闊。 二 、偏光彈性術語 圖1 彩色等色線乃由一定數目之彩色帶或線所組成 在此列出一些光彈學的術語 ： １．彩色等色線 ：彩色等色線乃由一定數目之彩色帶或線所組成 ，如圖1，沿此線上模型所呈 現之主應力差→( )或最大剪應力(the Maximum Shear Stress)$為定值 。在此光源使用 白色光 。 ２．黑色等色線(Fringes)：若光源使用單色 ，則等色線呈黑色 。 ３．等色線序(Fringe Order)即等色線 （彩色等色線或黑色等色線）出現次序 。 ４．偏振光 ：光為一種電磁波 ，一般的光線當其前進時 ，電磁振動方向四面八方都有 。如果電 磁振動只發生在一個平面內，則易於用數學方程式來描述 ，而利於使用 。這種只在一平面 內電磁振動 ，亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光稱為偏振光 。 ５．雙折射現象 ：通常一單色光進入透明物體 （如玻璃）時 ，會偏折向一方向，仍然是一束 光 ，但是有些晶體 （如方解石）卻不同，光通過此晶體時 ，會變成二束光 ，我們稱此晶 體具雙折射現象 ，顧名思義 ，雙折射即指有二個不同的折射率 ，所以光進入後有些電場振 29/plc/pre-oe/optical/OP7.htm 1/12 13/11/29 光 動 （磁場振動）方向依甲折射率偏折 ，有些電場振動 （磁場振動）方向依乙折射率偏折 ， 而變為二束光 。 ６．波板 ：是一種具雙折射性質的光學元件 。光通過此元件時 ，電場沿某一方向 （Ｆ 軸 ，快 軸）振動的光速度較快 ，而電場沿與此方向相垂直之方向 （Ｓ 軸 ，慢軸）振動的光速度 較慢 。於是當此二方向之光要通過此光學元件時會產生相位差 ，　若此相位差恰等於四分 之一波長時 ，稱此光學元件為四分之一波板 。　若此相位差恰等於二分之一波長時 ，稱此 光學元件為二分之一波板 。四分之一波板及二分之一波板是利用此雙折射光學元件之厚度 來控制 ，並且二個電場振動方向產生之相位差與通過此元件之光波長有關 ，不可任意調換 使用 。 ７．平面偏光與圓偏光系統 ：在光源後方加入一面偏光板 ，使光偏極化 ，再用另一面偏光板檢 查偏極光 ，此第二面偏振鏡稱為分析片 ，在兩面起偏振鏡中就是平面偏極光 。在兩面偏 光板中間加入兩片四分之一波片 ，當該兩四分之一波片的Ｆ 軸與 Ｓ 軸交叉排置且均與 起偏振鏡之偏振軸夾４５度角時 ，　即成為圓偏極光系統 。 三 、偏光彈性儀量測應力的原理 　　　　　　　　　　　　 　 很多人可能只知道光有前進方向、有頻率 、有相位等特性 ，卻很少注意到光也有其偏振的 方向。嚴格說來 ，光彈條紋並非一種干涉現像 ，而是我們利用偏光板在某些地方將某一些頻率 的光波擋掉了 ，以致於出現了彩色的條紋 （白光為光源）。至於倒底會擋掉那一個頻率的光波 呢？這就牽涉到待測物體的內部應力了。當某處待測物體的內部的應力產生的雙折射現象 ，使 入射的偏極光偏極方向偏轉的現象 ，而若某一頻率入射光的偏極方向偏轉到與分析板垂直 ，則 該處便觀察不到此一頻率的光線 。 以下我們將說明利用光彈方法量測應力的原理 。