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半导体集成电路第12章下
半导体集成电路 南京理工大学电光学院 积分型ADC 逐次逼近式ADC Σ-ΔADC 闪烁ADC(全并行ADC) 流水线ADC 折叠ADC 双斜率积分器输出波形 逐次逼近式A/D变换器判断图 Σ-Δ ADC特点及应用场合 特点: 1.具有较高的转换精度和性价比,且使用方便。如ADI的AD7760(20位分辨率)、 TI 的ADS1232(24位)。 2. 串行接口输出、外围器件少,低功耗 3. 转换速率低(一般不超过5000sps) 应用场合: 用于高精度的低频或直流信号测量的应用中。特别是数字音响系统,多媒体地震勘探仪器,声纳、电子测量,频率合成等领域。 Flash ADC的特点及应用场合 特点: 是已知结构中速度最快的转换器 面积大,功耗大,精度有限(比较器失配等原因) 应用场合 适合于一些高速、低分辨率(通常不会超过8位)的场合。ADI的典型产品有AD9006(6位,470Msps),AD9028(8位,300Msps),AD9060(10位,75Msps),AD9007(12位,10Msps)等,主要用于数字存储示波器、图像处理、雷达和一些军事用途。 流水线AD变换器特点及应用 特点: 由于每级都有采样保持电路,各级可以同时工作,大大提高了转换速度。 此外,流水线结构ADC面积小,功耗较小,低功耗流水线 ADC 的功耗已达到 20mw以下。 应用场合 常用于无线通信、CCD图像数据处理、超声监测等高速应用领域 特点: 速度较快; 电路规模和功耗不大。 实际应用中存在较大的非线性失真,在拐角处波形的失真比较严重,可以用双折叠等方式选取线性好的部分,但是面积会随着增大,一般折叠 ADC只用于10位以下的转换器 * * A/D 转换器的基本原理 A / D 数字信号 模拟信号 输入 多路 选择器 采样 保持 A/D变换 输出选通 状态控制逻辑 数字输出 模拟输入 b1 b2 bn A/D变换器框图 一、基本原理 二、常用的ADC结构类型 三、ADC 的主要技术指标 1.分辨率: 数字量变化一个最低有效位(LSB)所需的输入模拟电压的变化量。取决于满量程和位数。 一般: 如满量程5V,8位则分辨率为 5/256=19.5mV(更多的时候直接用位数来表示分辨率) 2.转换时间(速率): 完成一次从模拟量到数字量所需要的时间。积分型属ms级,慢速;逐次比较型,微秒级,中速;全并行,纳秒级,快速。 3.量化误差:ADC的有限分辨率阶梯状传输特性曲线与无限精度传输特性曲线之间的最大偏差。通常为1LSB或1/2LSB。 数字输出码 1LSB 无限精度特性 000 001 111 010 100 101 110 011 0 模拟输入 舍入式:1/2LSB 舍尾式:1LSB 1LSB 无限精度特性 0 模拟输入 A/D 转换器的常用类型 1. 积分型A/D变换器 (介绍目前较常用的双斜率积分型A/D变换器) 初始状态: S2闭合, S1接至-VA 起止信号 VREF 控制 逻辑 二进 制计 数器 -VA S1 S2 VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 C1 控制 逻辑 二进 制计 数器 -VA VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 初始状态: VX=0 VREF 控制 逻辑 二进 制计 数器 -VA S1 S2 VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 变换过程: 第一阶段 S2打开, S1继续接至-VA 控制 逻辑 二进 制计 数器 -VA VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 变换过程: 第一阶段 输入信号进行2N个时钟周期的积分 VX从0开始上升。 C1 t VX VREF 控制 逻辑 二进 制计 数器 -VA S1 S2 VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 变换过程: 第二阶段 S1接至VREF, S2保持打开 VREF 控制 逻辑 二进 制计 数器 VX 比较器 门控时钟信号 R1 数 字 输 出 第二阶段: 计数器清零后开始计数, VX下降: 当VX下降至0时,计数器停止计数 t VX 计数 可变上升斜率 VA1 VA2 固定下降斜率 t VX n1 n2 双斜率积分型 ADC 的特点: 1. 结构简单,精度较高(可高达22位分辨率 ),但是速度很慢。 2.与普通积分型ADC相比,由于积分利用两个时间的比值,所以能消除大部分线性误差的影响。 应用于低速、精确测量等领域,如数字电压表、数字万用表、智能化仪表及热电偶输出的量化。 计数器的计数值反映输入电压的大小 2. 逐次逼近式(SAR )A/D变换器 控制逻辑 N位D/A变换器 N位保持
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