运算放大器测试基础第4部分：测试运算放大器需要稳定的测试环路The basics of testing op amps, part 4_CH.docxVIP

运算放大器测试基础第4部分：测试运算放大器需要稳定的测试环路在前几篇文章中，我们介绍了一些基本测试技术以及设计和测试运算放大器时会出现的误差源。我们建议您在根据最后这篇文章介绍的测试电路知识及使用进行任何设想之前，先阅读一下之前的几篇文章。本文我们将介绍使用推荐测试电路时所涉及的补偿问题。如果测试电路中的环路不稳定，那它就没有用。在测试过程中要一直监控被测试器件测试环路的输出。如果环路发生振荡，而您不知道，您可能会报告不好的结果。更糟糕的是，您可能很晚才发现，而此时纠正该问题已经更难了。自测试补偿以最简单的形式看，图1中的自测试电路实际上是一款增益为1201的闭环系统。如果将R1减小至5kW，闭环增益就是 301。因此，它具有固有的稳定性，即使采用未经补偿、不具有单位增益稳定性的运算放大器也是如此。不过，当我们修改环路用于进行IB测试时，该电路会变得不稳定。因此，在配置被测试器件进行IB测试时应谨慎行事。您可通过在图1 中的电阻器RF周围添加一个补偿电容器(CCOMP) 来实现稳定性。图1.自测试环路电路，用来测试被测试放大器随频率变化的增益。使用大型电阻器测试IB时，需要为每个Ib电阻器布置一个小电容器，以保持环路稳定（请参考之前的文章）。添加该电容器可降低电阻器噪声，但要注意在测量之前要完全充电电容器。双放大器环路补偿有两种方法可以补偿双放大器环路。Don Lewis在他的一篇