化学成份在钧瓷胎釉反应层中分布模式的线扫描.pdfVIP

2011 年第69 卷 化 学 学 报 Vol. 69, 2011 第8 期, 912～918 ACTA CHIMICA SINICA No. 8, 912～918 ·研究论文· 化学成份在钧瓷胎釉反应层中分布模式的线扫描分析 李清临*,a 徐承泰a 贺世伟a 姚政权b a ( 武汉大学历史学院 武汉 430072) (b 安徽省文物考古研究所 合肥 230061) 摘要 利用能量色散 X 射线荧光(EDXRF)探针, 对一批金元时期的钧瓷样品进行了线扫描分析, 以研究钧瓷胎釉间薄 层物质的性质及其它相关问题. 结果显示, 胎釉间薄层物质的化学组成介于胎釉之间, 因此其应为在烧制过程中形成 的反应层. 分析还发现, 反应层中的K O 含量高于瓷釉和瓷胎, 与其它氧化物均有不同. 推断反应层中 K O 含量高的 2 2 现象, 是瓷釉和反应层中特定的SiO 和Al O 组成, 硅酸盐玻璃的特定网络结构, 以及SiO , Al O 及K O 在玻璃体中 2 2 3 2 2 3 2 的作用和特性等因素的综合作用结果, 而非单纯的K＋具有较强的渗透能力所致. 关键词 钧瓷; 反应层; 化学成份; 线扫描; EDXRF Line Scanning Analysis of Distributing Mode of Chemical Composition in Reaction Layer of Jun Porcelain Li, Qinglin*,a Xu, Chengtaia He, Shiweia Yao, Zhengquanb a ( History School of Wuhan University, Wuhan 430072) (b Anhui Institute of Archaeology and Cultural Relics , Hefei 230061) Abstract Some Jun Porcelain samples in Jin and Yuan dynasty, that have a thin layer of substance be- tween glaze and body, were analyzed by EDXRF (energy d