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实验设备图片、
Nova Nano SEM450型高分辨扫描电镜,美国FEI公司生产,购于2014年。 主要技术参数:高真空模式分辨率:1nm (15KV);1.6 nm (1KV);低真空模式分辨率:1.5nm(10kV,Helix探测器),1.8nm(3kVHelix探测器);标样放大倍数:40倍~40万倍;加速电压:50V~30kV,连续可调;倾斜角度:-10°~70°;样品台移动范围:X=Y=110mm;EDAX能谱能量分辨率126eV,成分范围B~U,束斑影响区1μm左右。 #FormatImgID_0#应用服务范围:具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像以及背散射电子像。具有高性能x射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点、线、面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。广泛用于金属材料、高分子材料、无机材料的纳米级样品的表面表征。 JXA-8230型电子探针,日本电子公司生产,购于2010年,主要附件为能谱仪350。主要技术参数:二次电子分辨率6nm,波谱通道数3CH,分析元素范围B-U,加速电压范围 0~30kV。探针电流范围 10-12-10-5A。 应用服务范围:电子探针可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析。可在观察微区形貌的同时逐点分析试样的化学成分及结构。可以进行点、线扫描(元素直线位置分布)、面扫描分析(元素面分布)。应用于冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及水泥熟料研究等领域。可以对固体材料的块体、粉末、薄片等进行微区化学组成的定性、定量分析,并可以得到形貌图像、成分分布像。 D/Max 2500PC型X射线衍射仪,日本理学公司生产,购于2009年。 主要技术参数:广角,0.0001度角度重现性。角度范围4到140度 ,角度重现性 0.0001。最大输出功率:18kw;电流电压稳定度:优于0.005%;光管类型:Cu靶,转靶;最大电压 60kV 最大电流 300mA; 应用服务范围:对金属,无机非金属,高分子材料样品进行物相分析、晶胞参数计算、晶粒尺寸计算、结晶度计算。 TGA/1600LF型同步热分析仪,瑞士梅特勒公司生产,购于2008年。 主要技术参数:温度范围:室温~1600℃;温度准确度:±0.5℃;温度精度:±0.3℃;升温速度:0.1~100℃/min;冷却速度(≥200℃)0.1~20℃/min;天平最大样品量:5000mg;天平灵敏度0.1ug;天平基线漂移:±10 ug;样品最大容量:150uL。 应用服务范围:可以对微量试样同时进行差热分析、热重分析及热重微分测量,适用于研究物质的相变、分解、化合、脱水、吸附、解析、溶化、凝固、升华、蒸发等现象及对物质作鉴别分析、组分分析、热参数测定和动力学参数测定等。 Mastersizer 2000E型激光粒度分析仪,英国马尔文公司生产,购于2009年。 主要技术参数:测试范围:0.1~1000微米粒度范围内固体颗粒和乳液。 测量速度:扫描速度1000次/秒,扫描次数用户可调;30秒完成光路校正、数据采集与处理、报告生成等全部操作。重复性:+/-0.5%,准确性: +/-1%。 仪器符合ISO13320及FDA的21 CFR 11标准。 应用服务范围:用于各种粉末、乳剂、悬液剂及其它物质的粒度分析。 DMA1型动态热机械分析,瑞士梅特勒-托利多公司生产,购于2015年。 主要附件:STARe操作软件、液氮制冷装置,多种测试夹具,包含剪切、拉伸、三点完全、单双悬臂、压缩及TMA测试模式。 主要技术参数:温度范围 -190℃~600℃;温度分辨率 0.1K;温度准确度 0.75K;升温速率 0.1K/min到20K/min;降温速率 0.1K/min到30K/min。力值范围 ±0.001N到±10N;力值分辨率 0.25mN;力值灵敏度 1mN;位移范围 ±1mm;位移分辨率 2nm;位移灵敏度 30nm;频率:频率范围 0.001Hz到300Hz;频率分辨率 0.0001Hz;频率准确度 0.001Hz;频率模式:对数和线性扫描;多频率。 应用服务范围: DMA1的应用非常广泛,可用于研究和表征材料的多个方面:粘弹性行为,松弛行为,玻璃化转变,机械模量,阻尼行为,软化,粘流行为, 结晶和熔融,凝胶化,相转变,共混物组分,固化和聚合反应,材料缺陷,填料效应。 DSC1型差式扫描量热仪,瑞士梅特勒公司生产,购于2008年。 主要技术参数:温度范围:-150~700℃;升温速度:0.02~300℃/min;降温速率:0.02~50℃/min;量热灵敏度:0.04uw;量热准确度:1%;量热重复性:0.1%;热流测量范围:700mw(100℃)
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