基于拉曼光谱-红外光谱-X射线衍射技术研究斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶度的关系.pdfVIP

基于拉曼光谱-红外光谱-X射线衍射技术研究斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶度的关系.pdf

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基于拉曼光谱-红外光谱-X射线衍射技术研究斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶度的关系.pdf

2015年 11月 岩 矿 测 试 Vo1.34.No.6 November2015 ROCK AND MINERALANALYSIS 652—658 文章编号:0254—5357(2015)06—0652—07 DOI:10.15898/j.cnki.11—2131/td.2015.06.008 基于拉曼光谱 一红外光谱 一x射线衍射技术研究斜硅石的 相对含量与石英质玉石结晶度的关系 周丹怡 ,陈 华 ,陆太进 ,柯 捷。,何明跃 (1.国土资源部珠宝玉石首饰管理中心北京珠宝研究所,北京 100013; 2.中国地质大学(北京)珠宝学院,北京 100083; 3.国家珠宝玉石质量监督检验中心,北京 100013) 摘要:石英质玉石的成分除o【一石英外,还或多或少含有一种低温低压的SiO矿物 “斜硅石”,关于斜硅石的 相对含量与石英质玉石结晶程度的关系还未见有研究。本文选取中国云南龙陵、安徽霍山、广西贺州和 内蒙 古阿拉善盟地区所产出的不同类型的石英质玉石为研究对象,采用拉曼光谱、红外光谱、x射线衍射分析技 术,确定了斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶程度之间的关系。结果表明,石英质玉石中斜硅石的相对含 量越高,石英质玉石的结晶程度越低;其中拉曼光谱中能够描述斜硅石相对含量变化的502am /465am 两峰强度比值 ()与石英质玉石的结晶度指数 (1,)基本上呈负相关关系:Y=一0.36X+6.93(r=一0.94)。 此结论为利用无损检测手段大致判断石英质玉石的结晶程度提供 了新的思路 ,同时也为定性评价石英质玉 石的品级提供 了科学依据和理论约束。 关键词:石英质玉石结晶度;斜硅石相对含量;拉曼光谱法;红外光谱法 ;X射线衍射法 中图分类号:P619.281;P575.4;17575.5 文献标识码 :A 在宝石学中,主要 由低温石英 ( 一石英)微晶 No.99—035)列入矿物名录。斜硅石和 0【一石英可 组成且具有一定工艺价值的矿物集合体通常被称为 共存于常温常压环境 中,但两者具有不同的晶体结 石英质玉石。该类玉石分布十分广泛,并凭借其多 构:斜硅石的晶胞参数 a=0.8758nm,b=0.4876 彩的颜色、温润细腻的质地而深受人们青睐,具有较 rim,c=1.0715nm,JB=90.08。,其空间群为 I2/a,属 高的市场潜力,从而推动了石英质玉石的相关研究。 单斜晶系(由于』B=90.08。,外观常呈假斜方对称), 石英质玉石的成分往往对其外观特征、品质级别、应 其对称性低于 仪一石英 ( 一石英的晶胞参数 a= 用性能等方面有着显著影响,因此该领域也是石英 0.4913nm,b=0.4913nm,c=0.5404nm,空间群为 质玉石研究中的热点。随着研究的不断深入,人们 P321,属三方晶系) 。 发现石英质玉石 中还可存在一种低温低压 SiO矿 斜硅石常以纳米尺度微晶的形式存在于各种产 物——斜硅石…。1976年斜硅石首次发现于西班 状、各种颜色 以及不同结 晶程度 的石英质玉石 牙大加纳利岛(GranCanaria)Mogan组底层流纹质 中¨ ],仅凭肉眼观察一般无法将其鉴别出来。迄 凝灰岩的裂隙和孔洞中 J,其晶体结构可以看作通 今为止,斜硅石的研究主要涉及晶体结构 、 过左形 一石英与右形ol一石英的(1011)面网交替 形态特征 ]、物理化学性质 ,、检测方法 、 堆叠,形成一个由SiO 四面体共角连接而成的三维 分布特征 和形成机理 等方面,但关于斜 结构,在单个 晶胞范围内这种结构类似于作周期性 硅石的相对含量对石英质玉石结晶程度的影响还未 重复的巴西双晶 J。2007年 国际矿物学会新矿物 见报道,开展这些方面的研究将为大致判断石英质 和矿物命名委员会正式批准,将斜硅石作为一种具

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