佳能正式发布单反新品EOS 50D.docVIP

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  • 2017-12-26 发布于贵州
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佳能正式发布单反新品EOS 50D

佳能正式发布单反新品EOS 50D / 邮件群发 2008年8月26日,佳能(中国)有限公司发布了最新数码单镜头反光照相机EOS 50D。这是佳能面向中高端市场推出的全新产品,承载了多项EOS系统的最新技术和先进性能:它使用1510万有效像素的CMOS图像感应器,新一代的 DIGIC 4数字影像处理器,ISO感光度设置达到ISO100-3200,最高可扩展设置到ISO12800;相机配备了3.0英寸、92万点分辨率的宽视角防反射清晰显示LCD,新增了支持高清电视输出的HDMI接口;去除照片暗角(镜头周边光量校正)、实时显示拍摄模式下的实时面部优先自动对焦等都是首次推出的功能。 与此同时,佳能发布了EF-S系列的首支大变焦比镜头EF-S 18-200mm f/3.5-5.6 IS,它的焦距覆盖广角至长焦范围,配备了IS光学影像稳定器,光学性能优异,是针对摄影爱好者的需求,推出的高性价比、便携的高素质大变焦镜头。 【高像素、新引擎】 EOS 50D使用佳能自主开发生产的最新CMOS图像感应器,这枚APS-C规格的感应器尺寸是22.3 x 14.9毫米,有效像素达到1510万,配合镜头的焦距转换系数是1.6。ISO感光度设置范围从ISO100至ISO3200,凭借突破性的技术,实现了高感光度可以扩展至ISO6400和ISO12800。在高ISO感光度设置下可选择降噪设置,分为标准、弱、强和关闭四级,此降噪功能可以在高速连拍时使用,而且连拍性能几乎不受影响(除“强”外)。通过降噪处理,长时间曝光或设置高ISO感光度拍摄的照片,都能获得非常清晰、细腻的效果。 数字影像处理器如同数码单反相机的大脑,对画质有重要影响。佳能拥有数字影像处理器这项核心技术,最新的DIGIC 4处理器,保持了高画质、高速图像处理的优势,能够精确、自然地还原色彩。它的处理速度大约是DIGIC Ⅲ处理器的1.3倍,功能方面的提升更加突出,EOS 50D新增了实时显示拍摄面部优先自动对焦功能和镜头周边光量校正功能,强化了自动亮度优化和高ISO降噪性能,并支持RAW、sRAW1和sRAW2三种RAW图像尺寸,以及HDMI高清输出接口、92万点LCD(VGA)等, 都离不开DIGIC 4处理器的强劲性能。 【进化的功能】 部分镜头因为光学结构的关系,在拍摄的照片边缘会产生四角发暗的现象,这在使用镜头的最大光圈拍摄时更容易发生。得益于DIGIC 4处理器出色的处理能力,EOS 50D拥有去除照片暗角的新功能——周边光量校正。相机已包含约20个镜头的周边光量校正数据,开启此功能,将会自动修正照片暗角;利用随机软件EOS Utility,还可以给未注册的佳能镜头注册校正数据。JPEG图像在相机上即可自动去除暗角;而RAW图像,需要通过随机软件Digital Photo Professional中的“拍摄设置”来操作。 EOS 50D在最高分辨率的设置下,连拍速度最快达到约6.3张/秒,配合UDMA (Ultra Direct Memory Access) CF卡,可实现高速的数据传输,大/精细JPEG照片一次可以连续拍摄约90张;非UDMA CF卡,大/精细JPEG照片一次可以连续拍摄约60张;拍摄RAW照片,一次连拍数量都是约16张。同时,RAW照片还可以细分为RAW、sRAW1和 sRAW2三种分辨率,以满足不同的拍摄需求。 实时显示拍摄模式是通过相机机身后面的LCD取景拍摄的方式,取景的图像能够通过随机软件和选购的无线文件传输器通过无线局域网传输到电脑屏幕上,进行遥控实时显示拍摄,以更加清晰的浏览,从而精确控制构图和对焦,这个功能得到了拍摄静物及模特的商业摄影师以及影楼摄影师的欢迎。EOS 50D的实时显示拍摄功能得到了升级,不仅可以在这一模式下操作菜单,网格线的选择更多,而且具有三种自动对焦模式:利用相位检测的快速模式,利用反差检测的实时模式,以及全新的实时面部优先模式,此模式下,相机自动识别图像中人物的面部,优先进行对焦。相机最多可以同时检测出35张人脸,并可选择需要优先对焦的人脸。 自动亮度优化功能为准确曝光提供了进一步的保障,相机会自动分析照片的曝光量,对逆光拍摄等容易出现曝光不足的照片进行亮度、反差调整,调整的程度分为标准/弱/强/关闭四级。与面部检测的功能相结合,能够优化人物面部的曝光。这个功能对闪光曝光同样有效。 EOS 50D自动对焦系统为9点宽区自动对焦,9个对焦点全部为高精度十字型自动对焦点,中央对焦点对f/2.8敏感,其余点对f/5.6敏感,保证摄影师使用大光圈镜头时相机精确对焦,自动对焦的算法经过优化,精度和速度都达到更高要求。EOS 50D采用35区测光感应器,测光范围是EV1至EV20,相机提供了评价测光、局部测光、点测光和中央重点平均测光

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