强度调制机理.ppt

5.1 引言 5.1 光纤传感器的分类 光纤传感器的分类 光纤传感器技被测对象的不同、又可分为光纤温度传感器、光纤位移传感器、光纤浓度传感器、光纤电流传感器、光纤流速传感器等。 5.2 强度调制机理 强度调制光纤传感器的基本原理是待测物理量引起光纤中的传输光光强变化，通过 检测光强的变化实现对待测量的测量。一恒定光源发出的强度为 Pi的光注入传惑头．在传感头内，光在被测信号的作用下其强度发生变化，即受到了外场的调制，使得输出光强Po的包络线与被测信号的形状一样，光电探测器测出的输出电流 Io也作同样的调制，信号处理电路再检测出调制信号，就得到了被测信号。强度调制的特点是简单、可靠、经济。强度调制方式很多、大致可分为以下几种：反射式强度调制、远射式强度调制、光模式强度调制以及折射串和吸收系数强度调制等等。一般透射式、反射式和折射率强度调制称为外调制式，光模式称为内调制式。 5.2.1 反射式强度调制 这是一种非功能型光纤传感器，光纤本身只起传光作用。这里光纤分为两部分，即输入光纤和输出光纤，亦可称为发送光纤和接收光纤。这种传感器的调制机理是输人光纤将光源的光射向被测物体表面，再从被测面反射到另一根输出光纤中，其光强的大小随被测表面与光纤间的距离而变化。在距光纤端面d的位置放有反光物体——平面反射镜，它垂直于输入和输出光纤轴移动，故在平面反射镜之后相距d处形成一个输入光纤的虚像。 5.2.2 透射式强度调制 发射光纤与接收光纤对准，光强调制信号加在移动的遮光板上，或直接移动接收光纤，使接收光纤只能收到发射光纤发出的部分光，从而实现光强调制。下图所示为动光纤式光强调制模型，用来测量位移、压力、温度等物理量。 5.3 相位调制机理 相位调制光纤传感器的基本传感原理是：通过被测能量场的作用，使光纤内传播的光波相位发生变化，再用干涉测量技术把相位变化转换为光强变化，从而检测出待测的物理量。光纤中光的相位由光纤波导的物理长波、折射率及其分布、波导横向几何尺寸所决定，可以表示为k0nL．其中k0为光在真空中的被数，n为传播路径上的折射率，L为传播路径的长度。一般说，应力、应变、温度等外界物理量能直接改变上述三个波导参数，产生相位变化，实现光纤的相位调制。但是，如前所述，目前的各炎光探测器都不能敏感光的相位变化，必须采用于涉测量技术，才能实现对外界物理量的检测。 5.3.1 光纤干涉仪 在光波的干涉测量中，传播的光波可能是两束或多束相干光。例如，设有光振幅分别为A1和A2的两个相干光束。如果其中一束光的相位出于某种因素的影响受到调制，则在干涉域中产生干涉。干涉场中各点的光强可表示为 式中， 是相位调制引起的两相干光之间的相位差。如果检测出干涉光强的变化，则可确定两光束间相位的变化，从而得到待测物理量的大小。 1. 迈克尔逊光纤干涉仪 由单色光源s发出的光经分束镜后，得到光强相等的两束光。其中一束光由的上表面进入，再从下表面反射穿过后，垂直射入到固定的反射镜上，经过反射后再通过射入到目镜L。第二束光是入射光束透过后形成的。它垂直入射在可移动反射镜上，经过反射后，在的下表面反射入目镜L。由于第一束光穿过三次，而第二束光只经过一次，为了补偿这种差别，在第二束光的路程中再放入一块补偿板，这样第二束光也在和中经过三次，从而补偿了光程。当两反射镜到分束器间的光程差小于激光器的相干长度时，射到光探测器上的两相干光束便产生干涉，干涉光强由式(2-3) 确定。两相干光的相位差为 式中， 是光在空气中的传播常数； 是两相干光的光程差。则可动反射镜每移动长度，光探测器的输出就从最大值变到最小值，再变到最大值，即变化一个周期。如果使用激光器，这种技术能检测级的位移。 为了克服空气受环境条件影响的空气光程的变化，可考虑用全光纤干涉仪结构。图2.2.2 表示了全光纤迈克尔逊干涉仪的结构。图中以一个3dB耦合器取代了分束器，光纤光程取代了空气光程，而且以敏感光纤作为调制元件。这种全光纤结构不仅避免了非待测场的干扰影响，而且免除了每次测量要调光路准直等繁琐的工作，使其更适于现场测量，更接近实用化。 2.赛格纳克光纤干涉仪 激光器输出的光由分束器分为反射和透射两部分，这两束光由反射镜的反射形成传播方向相反的闭合光路，然后在分束器上会合，被送入光探测器中，同时也有一部分返回激光器。在这种干涉仪中，把任何一块反射镜在垂直方向上移动，两光束的光程变化都是相同的。因此，根据光束干涉原理，在光探测器上探测不到干涉光强的变化。 但是，当把这种干涉仪装在一个可绕垂直于光束平面轴旋转的平台上，且平台以角速度转动是，根据赛尼纳克效应，两束传播方向相反的光束到达光探测器的延迟不同，若平台以顺时针方向转动，则在逆时针方向传播的光较顺时针方向传播的光延迟。这个延迟