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自制ARM仿真器 TAG 仿真器也称为 JTAG 调试器，是通过 ARM 芯片的 JTAG 边界扫描口进行调试的设备。 JTAG 仿真器比较便宜，连接比较方便，通过现有的 JTAG 边界扫描口与 ARM CPU 核通信，属于完全非插入式 ( 即不使用片上资源 ) 调试，它无需目标存储器，不占用目标系统的任何端口，而这些是驻留监控软件所必需的。另外，由于 JTAG 调试的目标程序是在目标板上执行，仿真更接近于目标硬件，因此，许多接口问题，如高频操作限制、 AC 和 DC 参数不匹配，电线长度的限制等被最小化了。使用集成开发环境配合 JTAG 仿真器进行开发是目前采用最多的一种调试方式。 关于JTAG的原理，大家可以参考OPEN-JTAG 开发小组写的《ARM JTAG 调试原理》。JTAG、BDM 都比较类似，实际上是将仿真功能嵌入到芯片内部，接上比较简单的调试工具就可以进行开发了，省掉了高价的仿真器。 ?? JTAG 调试用到了 TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST? 这几个脚。其中 TRST 是用来对 TAP controller进行复位的，它不是必须的。通过在 TMS脚也可以使 TAP controller复位。 Test Clock Input (TCK)?? TCK为 TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP 的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。TCK在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。? Test Mode Selection Input (TMS)?? TMS信号用来控制 TAP状态机的转换。通过 TMS信号，可以控制 TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在 TCK的上升沿有效。TMS在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。? Test Data Input (TDI)?? TDI 是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过 TDI 接口一位一位串行输入的（由 TCK驱动）。TDI在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。? Test Data Output (TDO)?? TDO 是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过 TDO 接口一位一位串行输出的（由 TCK驱动）。TDO在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。? Test Reset Input (TRST)?? TRST 可以用来对 TAP Controller 进行复位（初始化）。不过这个信号接口在 IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。因为通过 TMS也可以对 TAP Controller进行复位（初始化）。 ?下面对目前国内市场上常见的几种仿真器一一做点介绍。 1. Wigger, SDT250JTAG, 2410JTAG此类器件仅做简单的PC并口到JTAG接口的电平转换。它们的区别仅在于JTAG信号PIN和PC并口PIN的对应关系不同,? 其主要用来在PC机上通过JTAG 接口烧写目标板上的 Flash,? 常用软件如 Flashpgm 等,? 如加上 JTAG.exe 等 SERVER 软件,也可用 SDT 等软件进行源代码级的调试,? 只不过速度会比较慢。 ?2. EasyJTAG 与Wigger等相比,多了JTAG输入输出信号缓冲,内部有颗JTAG Bus Master芯片,而且与PC并口之间的数据接口是 8 位连接,因此比前者的速度快。但不幸的是支持的软件较少(Flashpgm,JTAG.exe 都不支持),? 需要自己开发软件相关软件,故市场上很少见,而且需注意的是有人将wigger与它相混淆。 ?3. Multi-ICE 此为ARM公司生产的原版ARM并口仿真器。支持全系列的ARM核, 与wigger, EsayJTAG一样,通过并口与 PC 机连接,且数据接口也为 8 位。由于其内部有颗 FPGA 做并口到 JTAG 的协议转换,速度要比前两者都要快很多,下载速度可在 120kByte/s左右。此器件有两种供电方式,一为外接 5V电源(当目标板的电源功率不够或想减少仿真器对目标板的影响时用), 另一为通过JTAG 接口从目标板上取电(因而使用方便)。 Multi-ICE 的系统构架是由硬件实现 PC 并口到JTAG协议的转换(JTAG Bus Master 控制器),而在 PC 机上用 Multi-ICE.exe 服务软件及并口驱动实现JTAG TAP多路访问、控制接口及不同ARM核的支持,用Multi-ICE.dll或Multi-ICE-gdb.exe来支持RDI(ADS或SDT等)或GDB（gdb或xgdb等）接口的调试器与Multi-ICE.exe之间的TAPop接口的操作。