课件材料方法-第3章-xrd-3.pptVIP

不同陈化时间下的ZnO粉末样品XRD （陈化时间分别为a: 40min; b: 60 min; c: 120 min; d: 240 min） * ZnO纳米晶A和B的X射线衍射谱 * 介孔结构测定 小角度X射线衍射峰可以用来研究纳米介孔材料的介孔结构，这是由于介孔材料可以形成规则的孔，可以看作周期性结构。 已二胺处理前(左)后(右)黏土的小角XRD衍射图 * 铝合金表面TiN物象随深度分布的二维XRD 图中在α=1度时仅有TiN的衍射谱线，说明TiN富集在合金表面，当α=12度时出现衬底铝的衍射峰，说明此时X射线已经穿透整个薄膜材料 * 多层膜结构测定 在纳米多层膜材料中，两薄膜层材料反复重叠，形成调制界面。当X射线入射时，周期良好的调制界面会与平行于薄膜表面的晶面一样，在满足布拉格方程时，产生相干衍射，形成明锐的衍射峰。由于多层膜的调制周期比一般金属和小分子化合物的最大晶面间距大得多，所以只有小周期多层膜调制界面产生的X射线衍射可以在小角度区域中观察到，而大周期多层膜调制界面的X射线衍射峰则因其衍射角度更小而无法进行观测。因此，对制备良好的小周期纳米多层膜可以用小角度XRD方法测定其调制周期。 * 沉积在玻璃极板上20层共聚物(p(DDA-tBVPC18)) LB膜的X射线衍射图 对于样品在2θ=2.83o时