材料分析方法 第三章 多晶体X射线衍射分析方法.ppt

第三章 多晶体X射线衍射分析方法 内容提要: 引 言 第一节 德拜照相法 第二节 X射线衍射仪法 引 言 粉末法的衍射原理: 对于粉末(或多晶)试样，当一束X射线从任意方向照射到试样上时，总会有足够多的晶面满足布拉格方程。 在与入射线呈2θ角的方向上产生衍射，衍射线形成一个相应的4θ顶角的反射圆锥。 圆锥的轴为入射束方向，反射圆锥的母线方向即为特定晶面的衍射束方向。 德拜-谢乐法： 德拜法的主要特点：用细圆柱状试样和环带状底片。 将一个长条形底片圈成一个圆，以试样为圆心，以X射线入射方向为直径放置圈成的圆底片。 这样圆圈底片和所有反射圆锥相交形成一个个弧形线对，从而可以记录下所有衍射花样，这种方法就是德拜-谢乐照相法。 记录下衍射花样的圆圈底片，展平后可以测量弧形线对的距离2L，进一步可求出L对应的反射圆锥的半顶角2θ，从而可以标定衍射花样。 二、德拜法的实验条件 1、试样 试样尺寸为 mm的细圆柱状样品。 试样要求： 第一、试样粉末尺寸大小要适中；粉末颗粒通常在10-3~10-5cm之间（过250~300目筛），每个颗粒又可能包含了好几颗晶粒。 第二、试样粉末不能存在应力。脆性材料可以用碾压或用研钵研磨的方法获取；对于塑性材料(如金属、合金等)可以用锉刀锉出碎屑粉末。 X射线衍射仪的基本组成部分： X射线发生器 测角仪（核心部分） 辐射探测器 辐射测量电路 (4) 测角仪支架E： 狭缝I、光阑F和计数管C固定于支架E上； 支架可以绕O轴转动； 支架的角位置2θ可以从刻度盘K上读取。 工作原理：θ-2θ联动 即样品和计数管的转动角速度保持1：2的速比。当样品H转过θ角时，支架E恒转过2θ角。这就是试样-计数管的联动(常写作θ-2 θ联动)。 工作过程： 联动扫描过程中，探测器沿测角仪圆由低2θ角到高2θ角转动，当转到适当的位置时便可接收到一根反射线，这样逐一探测和记录下各条衍射线的位置（2θ角度）和强度，获得衍射谱。 2、测角仪的聚焦几何 测角仪的衍射线的聚焦条件是根据聚焦原理设计的。 根据聚焦原理：“同一圆周上的同弧圆周角相等”，当一束X射线从S照射到试样表面AOB上，它们的同一（HKL）的衍射线的会聚点F必落到同一聚焦圆上。这时圆周角∠SAF=∠SOF=∠SBF=π-2θ。 设测角仪圆半径为R，聚焦圆半径为r，可以证明： r = R/2sinθ 探测器在运转过程中，聚焦圆半径时刻变化着。 当θ→ 0o，r → ∞； θ→ 90o，r → rmin = R/2。 因此，衍射仪采用平板试样。目的是使试样表面始终保持与聚焦圆相切，近似满足聚焦条件。 3、测角仪的光路布置 光路布置如图。 狭缝的宽度以度（?）来计量，有一系列的尺寸供选用。 在测定时，可根据样品的情况选择各狭缝的宽度。 狭缝宽度影响衍射峰形及强度！ 正比计数器 正比计数器是利用X射线光子使计数器内惰性气体电离，所形成的电子流在外电路中产生一个电脉冲。 脉冲大小与入射X射线光子能量成正比，可与脉冲高度分析器联用。 闪烁计数器 工作原理：利用x射线能激发某些固体物质(磷光体)发射可见荧光，并通过光电倍增管转换和放大为能够测量的电流； 由于输出的电流和X光子的能量成正比，因此也可与脉冲高度分析器联用，从而用来测量衍射线的强度。 3、扫描方式 多晶体衍射仪扫描方式分为连续扫描和步进扫描两种。 （1）连续扫描（最常用）： 在选定的2θ角范围内，计数管以一定的扫描速度与样品(台)联动，连续测量各衍射角相应的衍射强度，获得I—2 θ曲线。 连续扫描方式扫描速度快、效率高。 一般用于对样品的全扫描测量（如物相定性分析）。 （2）步进扫描 常用于精确测量衍射峰的强度、确定衍射峰位、线形分析等定量分析工作。 步进扫描测量精度较高，但费时，一般仅用于测量2?范围不大的一段衍射图。 四、立方系晶体衍射花样的标定 首先，计算与各衍射峰对应的面间距d。 然后，标定晶面指数。 标定方法分两种： 如果样品晶体结构已知，可以立即标定每根衍射线的晶面指数； 如果样品晶体结构未知，则需要参考试样的化学成分、加工工艺过程等进行尝试标定。 令N=h2+k2+l2 ，则有： 即掠射角正弦的平方之比等于晶面指数平方和之比。 根据立方晶系的消光规律，相应的N值序列规律如下： 于是,根据测得的θ值，可计算出： 得到指数平方和的连比序列，然后与表3-1对比，就可以确定衍射物质是哪种立方结构。 按照对应的线条顺序就可标出相应的线条指数。 线条指数确定后，就可计算出晶格常数a。 （以高指数（高θ角）计算出的a比较准确。 ）