四角晶相HfO2001表面原子和电子结构研究-物理学报.PDF

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四角晶相HfO2001表面原子和电子结构研究-物理学报

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 ** ) ’’5 ) , , , TU; 3** SU 3 ) G9VE? ’’5 ( ) ,’’’/)-’K’’5K** ’) K ,)+(/’* %J Q0R#$% #$S$% ’’5 %?:@ 3 Q?WO 3 #UE 3 四角晶相 ( )表面原子和电子结构研究! !#$ %% 卢红亮 徐 敏 陈 玮 任 杰 丁士进 张 卫! (复旦大学微电子学系, 与系统国家重点实验室,上海 ) #$% ’’()) ( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿) ’’* + , ’’* - * 采用基于第一性原理的密度泛函理论研究了四角晶相二氧化铪( )体相及其( )表面的原子几何与电 ./012 ’’, 子结构 理论计算结果表明, ( )表面不会产生重构现象 与体相电子结构相比, ( )表面态密度明 3 ./012 ’’, 3 ./012 ’’, 显高于体相态密度 其次,表面原子的态密度更靠近费米能级( ),价带往低能量处移动,并有表面态产生 计算结 3 !4 3 果表明了 表面禁带宽度明显低于体相的禁带宽度 ( )的表面态产生以及表面禁带宽度减小是由于 ./012 3 ./012 ’’, 原子与 原子的配位数减少,表面原子周围的环境发生变化而引起的 01 2 3 关键词:密度泛函理论, ( ),表面电子结构 ./012 ’’, : , ’()) +,,* +)’

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