基于225kV射线源的显微CT成像系统研发研究.pdfVIP

中国体视学学会cT理论与应用分会、中国工程物理研究院 2008年7月 应用电子学研究所、(CT理论与应用研究》编辑部论文集 基于225kV射线源的显微CT成像系统研发 许州1，李保磊2，陈浩1，王远1，黎明1，张成鑫1，卢和平1 1．中N-r程物理研究院应用电子学研究所，四川绵阳621900 2．北京航空航天大学机械工程及自动化学院，北京100083 摘要：基于225kV微焦点射线源和PaxScan2520平板探测器，本文详细介绍了口CI一225显微CT 成像系统的系统组成，技术指标以及制约像质提高的主要因素。阐述了系统研发过程中取得的 技术创新。主要表现在四个方面。一、在转台旋转中心(c0R)确定方面，提出了一种基于正弦 图信息的COR自动确定方法，避免了工程应用中时常手动调节中心偏移；二，在空间分辨率方 面，提出了一种基于投影补偿的空间分辨率提高方法；解决了投影截断情况下进行高分辨率重 建的问题；三，在噪声抑制方面，改进了NL-means噪声抑制方法，解决了显微cT图像噪声大， 密度分辨率低的问题；四，在伪影抑制方面，提出了基于特征识别的环状伪影校正方法和基于B 样条曲