CQI-9过程表A~E-1.doc

特殊过程：热处理系统评审 附录A-过程表 过程表A：渗碳/碳氮共渗/复碳/调质/贝氏体等温淬火/马氏体分级淬火/回火/沉淀硬化－时效。 过程表B：气体渗氮和氮碳共渗（气体或盐浴） 过程表C：铝的热处理 过程表D：感应热处理 过程表E：退火 / 正火 / 去应力退火 15  附录A－过程表A：渗碳/碳氮共渗/复碳/调质/贝氏体等温淬火/马氏体分级淬火/回火/沉淀硬化－时效 表中给出的所有要求都要服从于顾客特殊要求。 顾客可以增加其它要求，如检查试验、增加检测频率等，评审时审核员应 确认热处理组织是否满足了顾客要求。 *连续加热炉的检查频率是按批次（订单）或按规定执行，两者取频率多的。 ** 运行温度低于760℃（1400°F)的热处理炉不适用。 — 表示不适用 序号 评审要素 1.0 过程与检测设备要求 A1.1 A1.2 A1.3 A1.4 A1.5 A1.6 A1.7 A1.8 A1.9 A1.10 A1.11 3.1/3.7 3.1/3.7 1.18 3.2 3.2 3.2 3.2 3.2 2.16 2.16 3.2 类别/过程步骤 分批炉 连续炉* 气氛发生器 所有的热处理炉、气氛发生器和淬火系统应 有温度指示仪表。 温度和碳势的监视系统要求有连续纸带记录和/或数据日志，如露点仪、氧探 头、红外线（IR）气体分析仪等。 要建立针对热处理炉和气氛发生器的燃尽程序(适用于含碳气氛)。 热处理炉用磅秤应 至少每季度检验一次，每年校准一次。 检测炉内碳势的露点仪、三气体分析仪、光谱分析仪和红外碳燃烧分析仪（间 隙试片分析）等仪器应 至少每年校准一次。 光谱分析仪和红外碳燃烧分析仪应 每天或使用前进行校准验证 三气体分析仪的零点和气体测量范围应 至少每周校准验证一次。 氧探头控制器应 至少每季度校准一次。 所有硬度测试设备应 至少每年校准一次，而且每天要根据美国材料试验学会 的标准确认。 锉刀应 每天或使用前用校准装置按SAE J864规范确认。 折光仪（专门用于检查聚合物淬火剂和清洗溶液）应 至少每天用蒸馏水检验 一次，并按制造商的要求至少每年校准一次。 是 是 是 是 — — — 是 — — — 是 是 是 是 — — — 是 — — — 是 是 是 — — — — 是 — — — 2.0 高温测量仪器 A2.1 A2.2 3.2/3.3 3.2/3.3 A2.3 3.2/3.3 A2.4 3.4 热电偶及其校准应 符合AMS 2750D的要求。 仪表应 按AMS 2750D至少每季度校准一次，低于AMS 2750D规定的频率是 不允许的。 CQI-9要求在合格工作区对控温传感器(CTS)与下列仪器进行比较检查： (1)已校准的温度测试传感器(CTTS)或 (2)标准热电偶(R-T/C). (1)控温传感器（CTS）在CTTS的读数应 在其工作温区±5℃（±10F）的范围 内，此检查应 每月执行一次； (2)在工作温度范围内按最近温度均匀性检测时的测定,CTS和R-T/C读数的差 异不得超过±1℃(或±2℉),此检查应 每周一次。 任何校正不合格读数或确认测试结果的措施都应 记录备案。 此外,对在760℃(或1400℉)温度下操作的设备，应 每月检查K型(镍铬-镍硅) 和N型(镍铬硅-镍硅镁)热电偶一次，且至少每年更换一次； 对在＜760℃(或1400℉)温度下操作的设备，应 每季度检查K型和N型热电偶 一次，且至少每两年更换一次。 对在760℃(或1400℉)温度下操作的设备，应 每月检查R型（铂铑13-铂）和 S型（铂铑10-铂）热电偶一次，且至少每两年更换一次。 保护管的目视检查频率应 与热电偶的检查频率相同。 温度均匀性检测(TUS)请参照AMS 2750D的程序实施,其检测频率应 为每年一 次或在设备大修后进行；温度均匀性的最大允许误差为：淬火炉应 为±14℃ (±25℉),回火炉应 为±11℃(±20℉)。最低和最高温度范围应 按AMS 2750D 测试。 例外：若合格工作区的操作温度范围170℃(306℉),则只需 要测试一种温度，该温度应 在合格工作区的操作温度范围内。低于AMS 2750D规定的测量频率是不允许的。 奥氏体化过程用连续自动高温测试仪获得的记录温度应 控制在设定值的±9℃ （±15℉）内，炉温及保温时间应 从炉温达到公差下限（公差如上所述）时 开始控制。 回火及脱溶硬化