基于二叉树满足MCDC测试用例设计方法.PDFVIP

电子发烧友 电子技术论坛 基于二叉树满足MC/DC测试用例设计方法 1 2 2 2 张宇 ,张波 , 王俊杰 , 陈媛 (1. 同济大学，上海 200092; 2. 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033) 摘要：软件测试是保证软件质量的有效方法，但测试工作过程繁琐，工作量较多。探索高效、可靠的测试 用例设计方法一直是大家追求的目标，随着航空航天产品逻辑复杂性的提高及软件规模的日益增大，这种 要求也变得更加迫切。依据MC/DC设计的测试用例既提高了测试用例设计的效率又增加了测试覆盖率，比较 适合测试逻辑关系相对复杂的软件。当前的很多软件测试工具提供了软件测试覆盖率的判定功能，可以评 定设计出的测试用例是否满足MC/DC的要求，而软件测试人员需要的是逆向的过程，论文提出应用唯一原因 法和屏蔽法原理设计测试用例，可达到根据逻辑关系自动生成满足MC/DC要求测试用例的目的，提高了测试 用例设计的效率。 关