非点光源情况下平场光栅的成像研究中国科技论文在线.PDFVIP

中国科技论文在线 第 49 卷 第 5 期 2000 年 5 月 物 　理 　学 　报 Vol. 49 ,No. 5 ,May ,2000 ( ) 2000/ 49 05 / 086305 ACTA PHYSICA SIN ICA 2000 Chin. Phys. Soc. 非点光源情况下平场光栅的成像研究 李英骏1) 　杨建伦2) 　张 　杰1) 1) ( 中国科学院物理研究所 ,北京 　100080) 2) ( 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 ,成都 　610003) ( 1999 年 9 月 21 日收到 ;1999 年 10 月 28 日收到修改稿) 　　用光路追踪程序对具有一定尺度的光源通过变栅距凹面光栅后的成像情况进行了研究. 证明了对于非点光 源 ,在特定的实验安排下 ,其焦面仍可以在一个平面内, 同时给出了对于不同入射距离的非点光源形成平焦面的波 长范围. 结果还表明 ,当光源尺度与入射距离之比小于 1 ∶1000 时 ,光源尺度的变化对焦面位置没有实质性的影响. PACC : 0765 ; 0785 ; 4230 计算结果进行了总结. 1 　引 言 2 　基本方程 随着强场物理[1 ] 、ICF[2 ] 和 X 射线激光[3 ] 等研 究的进一步发展 ,高温 、高密度激光等离子体中许多 利用 Harada 等[7 ] 的光路函数结果 ,我们感兴趣 相互作用机制的研究需要从实验中得到更多的激光 的是光谱方向的聚焦条件. 因此 ,只需对光路函数中 等离子体的相关参数 ,而来自于高温 、高密度等离子 与此有关的 F 10 和 F20 项进行讨论. F10 与 F20 可以 体中的 X 射线谱提供了许多有关等离子体的重要 被表示为 [4 ,5 ] ( λ) σ ( ) 信息 . 在 X 射线谱的测量中 ,掠入射平场谱仪由 F10 = C10 + [ m / 0 ] M 10 , 1 于其所具有的优势已成为 X 射线谱测量中一个重 ( λ) σ ( ) F20 = C20 + [ m / 0 ] M 20 . 2 要的工具. 这里, C10 和 C20 是与传统等间距直线刻线相关的 目前的掠入射软 X 射线平场谱仪 , 由于入射狭 项; 而 M 10和 M 20 是与变间距曲线刻线相关的像差 缝的存在而大大降低了 X 射线的接收效率. 对此 , 修正项; σ是光栅的