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3D多功能测量系统技术规格书 名称:3D多功能测量系统 数量:1台 用途及要求: 检测公司专用量具,模具,标准零环,各种高精度刀具(包括螺旋刀具)的长度和形位公差的测量.设备需有光学非接触和接触两种测量手段.光学系统应用高分辨率的彩色CCD摄象机.设备结构设计合理,有足够的静态,动态,热态刚度,并能采用先进技术,保证系统有良好的动态品质.所选伺服系统执行元件精度高,可靠性好,响应速度快.设备编程,使用,操作,维修方便,造型美观,售后服务优良. 交货期:合同生效后三个月内 报价方式:人民币 交货地点: 设备基本技术参数和技术要求 7.1设备制造:应符合ISO现行标准及安全标准 7.2设备主要功能: 7.2.1几何元素的测量和检测;形位公差的测量和检测.测量和评定符合ISO和GB标准要求.能与计算机辅助设计进行数据传递.高精度的测量和快速的扫描,无须对工件进行特殊调整,配备热键,只须调用即可完成测量任务. 7.2.2软件：影象直接由电脑屏显示,直接存储提供坐标摆正功能,鼠标取点自动巡边,可直接对物体进行几何基本运算并有去毛边功能,可作立体工件上斜面,圆,槽沟,柱,球,锥,盲孔等测量.具有几何公差和形位公差功能.图形可以存储,打印和转化成CAD,有教学编程功能.三维成象及对比功能. 7.3设备测量范围:X*Y*Z≥300*300*200 7.3.1设备工作台支承台应为整体式,应配置有夹具孔的专用光学玻璃平台.均需采用优质坚硬的材料.设备导轨应采用能保证X/Y/Z轴运行平稳，可靠，不易变形的形式。 7.3.2设备光学玻璃平台承重：不小于25kg 7.4设备精度： 7.4.1设备像素分辨率≤0.001mm，影象精度≤0.0003 mm 7.4.2测量精度：轴的测量不确定度，E1≤（1.5+L/250）（L为测量长度：以下L相同） 平面的测量不确定度，E2≤（1.5+L/250） 高度的测量不确定度，E3≤（2.5+L/150） 7.4.3设备的测量重复性： 7.4.3.1：X/Y轴≤0.0005 mm Z轴≤0.0025 mm 7.5设备运动速度：X/Y/Z轴运动速度≤200 mm/S，加速度≤1000 mm/S2 7.6测量方式：CNC控制的全自动测量方式与手动测量方式 7.7测量系统配置：光学测量系统和高精度接触式测量系统，两种测量系统可相互转换。 7.7.1光学式测量系统： 7.7.1.1光学式测量系统的配置要求： 光学测量系统一套；光学玻璃平台；自动校准的变焦镜头；校准变焦器的玻璃片；高精度的Z轴影像自动聚焦。 7.7.1.2光学式测量系统的性能要求： (7.7.1.2.1设备具有高分辨率全自动聚焦CCD摄像传感器，通过自动校准的变焦镜头组成明亮而清晰的影像，放大倍数可从50倍到150倍，最大放大倍数可达300倍以上。可进行高精度的Z向自动聚焦测量。要求从高倍到低倍变化时，无须重新校准，且影像中心不会位移或模糊。 7.7.1.2.2设备具有高清晰度的彩色测量摄像头，探测误差≤0.0005mm。通过模糊逻辑进行数字图像处理。 7.7.1.2.3光学扫描速度，每秒可取点不得少于40点。 7.7.1.2.4有连续扫描功能。 7.7.1.2.5设备具有内置背光、正光，光纤同轴上光及环形照明系统，数字化程序控制灯光，程序调节光亮度。 7.7.1.2.6设备具有内置全自动的环形照明灯（环形照明灯不少于3区段/3环）,光源的角度变化从45度至70度。 7.7.2高精度的接触式测量系统： 7.7.2.1高精度的接触式测量系统的配置要求： 7.7.2.1.1接触式测量系统一套，可辅助光学测量系统提高测量系统精度：接触式探头；接触式探针组；标准球一套。 7.7.2.1.2要求高精度的接触式测量系统配置高精度的雷尼绍TP200传感器一件。其配置要求如下： 高精度的雷尼绍TP200传感器其配置是：PI200探头接触面1个； 标准接触头1个； TP200一个； 红宝石探针1套（直径1mm(7mm长PS23R；直径2mm(14mm长PS2R；直径3mm(14mm长PS16R；直径4mm(14mm长PS17R；直径2mmStar探头，PS7R）。 7.7.2.2接触式测量系统的性能要求： 7.7.2.2.1能将Z轴精度提高至≤0.001mm。 7.7.2..2.2测头/探针触发力：X/Y轴0.02N，Z轴0.07N。 7.8控制系统 X/Y/Z轴、旋转台全由CNC控制，四轴联动。 7.8 CNC控制系统功能： 7.8.1设备控制计算机配置：奔腾IV处理器，2G随机存储器，120G硬盘（最小配置），DVD内置驱动器，1.44MB软盘，光盘，鼠标器和键盘；17液晶显示器1个，Wi