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改变升温曲线提高CR39SSNTD生产效率
南亲良 邹士亚 李伯阳 王尔为 丁同样 程 松
(防化研究院,北京1044信箱200,北京 102206)
关性词 081.7固体核径迹探侧. 升沮曲践
引 言
CR39固体核径迹探侧器 (SSNTD)有着极低能f沉积密度探侧阅,可以测f出质子和比
质子重的ZId-6-120之间的所有带电粒子。所以CR39SSNTD广泛的应用于物理学、化学、
生物学、医学、地学、考古学及环境科学等许多科学领域。80年代末,我院二所成功地研制
了CR39SSNTD,其性能已达到国际先进水平。目前已成为国内唯一一家能生产并销售高灵敏
度CR39SSNTD研究单位,实现了高灵教度CR39SSNTD的国产化,填补了我国一项空白。
但是。由于CR39单体聚合是放热反应,如果聚合速度不均匀会导致聚合过程失控,造成
CR39SSNTD破碎。另外,聚合反应还伴有 14%体积收缩。如果聚合不均匀,会在探侧器表面
形成许多凸凹不平的小坑。并伴有大t的气泡。探测器经碱液蚀刻后会出现假径迹,使本底
计数过高。给用户带来不便。因此,作者生产CR39SSNTD的聚合过程长达十五天。尽管保证
了产品质tI,生产效率却比较低。为了缩短聚合时间提高生产效率,作者对升温曲线进行深
入探索和大量实验,终于总结出新的升温曲线,使聚合时间缩短为六天,并且探测器性能与
过去墓本相同。
1升温曲线及产品性能
1.1升温曲线
图1为原有升温曲线图.2为新的升温曲线。
昌
吸
时间u天
图1原有升沮曲线
2‘4
A
甲
. |
O 9
肠
豁 一
6 0
时间r天
图2 新升温曲线图
2 产品性能
2.1本底计数
分别测量两种生产方法生产的CR39SSNTD的本底计数。具体过程:将两种厚度为300
umCR39探测器放在50C,6.25.mo1-L1KOH溶液中蚀刻2小时。取出,用水冲净,用滤纸
小心吸干水演,放在光学显徽镜下观测。本底计数见表1.
表 1
平均位
S为原有升温曲线生产的CR39SSNT。本底计数,S为新升沮曲线生产的CR39SSNTD$
底计数。从表3看,两种CR39SSNTD本底计数基本相同。
2.2a粒子注A与径迹密度线性关系
取两种厚度为300umCR39SSNTD各六片,用241AM标准源经过01.Up亮30mm谁直
孔垂直照射 CR39片。照射量分别为10000.20000.30000 40000.50000.60000个A=%
经过50C1,6.25mot-LKOH溶液中蚀刻4小时,侧得径迹数与a粒子注A的关系见表2及
图3,
粒子注t与径迹密度的关系
10000 20000 30000 50000
2133 4178 6526 10610 1122654281
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