晶体光学和偏振3.ppt

1 §5－6 偏振的矩阵表示 一、偏振光的表示 1、线偏振光的分解 第五章 光的偏振和晶体光学基础 2 2、圆偏振光（包括椭圆偏振光） 3 左旋椭圆光 为圆偏振光 右旋椭圆光 讨论： 所以任意一个偏振光都可表示为: a.光矢量互相垂直 b.沿同一方向传播且位相差恒定 的两个线偏振光的合成。 4 二、偏振光的矩阵表示 5 称为归一化的琼斯矢量 6 1、线偏振光的归一化琼斯矢量： 若光矢量沿x轴，Ax=1 Ay=0 =0 ，则： 9 解：光线的偏振状态为： 1 û ë û ë 例1： 求透光轴与x轴成角的线偏振器的琼斯矩阵 10 由此得线偏振器的琼斯矩阵为： 11 例2： 自然光通过光轴夹角为45度的线偏振器后，又通过了1/4、1/2和1/8波片，波片快轴沿Y轴方向，试用琼斯矩阵计算透射光的偏振态。 解：自然光通过起偏器，成为线偏振光，其琼斯矢量为： l/4波片, l/2，l/8波片的琼斯矩阵分别为 12 出射光为： 13 一、偏振光的变换 §5－7 偏振光的变换和测定 1、椭圆偏振光的获得 方法：采用起偏器和/4波片从自然光中获得 14 2、偏振光的检验 方法：利用位相延迟器和偏振器 光强变化， 但不消光。 消光； 光强不变 消光； 光强变化，不消光。检测方法参见上次课 15 二、偏振光的测定 1、线偏振光的测定 含义：确定是否是线偏振光； 测定线偏振光的振动方向。 出发点：马吕斯定律 半影式检偏器：用以提高检偏器方位的定位精度。 16 2、椭圆偏振光的测定 含义：用实验方法测定表示偏振状态的参量（指定坐 标系中的方位角、椭圆度tg和旋向；或直角坐标系 下两偏振光振幅比tg和位相差。） y 17 方法：采用1/4波片和检偏器的方法。 步骤：1）首先用检偏器测定椭圆长轴的方位角和椭圆度tg 2）用1/4波片和检偏器测定椭圆偏光的旋向。 1）设x’oy’坐标系中椭圆的琼斯矩阵为 检偏器透光轴与x’轴夹角是，其琼斯矩阵为： 18 出射光的强度为： 由此可找出光强最大的位置，从而确定长轴与预定的x轴之间的夹角和椭圆度tg =A2/A1。 19 2）将1/4波片快轴与已找到的椭圆长轴方向一致 若入射椭圆偏光为左旋时： 出射光在二、四象限。 若入射椭圆偏光为右旋时： 出射光在一、三象限。 这样即可判断椭圆偏光的旋向。 20 一、平行偏振光的干涉 1、干涉装置： §5－8 偏振光的干涉 21 2、原理和公式： 沿晶片快、慢轴方向建立坐标系。 设入射线偏光振幅为a。 22 1）正交偏振器系统： 起偏器P和检偏器A的透光轴相互垂直，即：=+/2 3、讨论 2）平行偏振器系统： 起偏器P和检偏器A的透光轴相互平行，即：= 显然，平行偏振和正交偏振的光强极大、极小的条件互补 23 I和及有关。其中反映晶片光轴的方位； 反映晶片的厚度及材料特性。 的影响：若d一定（即一定），改变 i） 当 时，有 （消光） ii） 当 时，有 （最亮） 分析 24 的影响：若晶片方位一定(即一定），改变 ，则光强也将改变。改变的方式有两种：晶片厚度d或者波长 i）当＝2k时，即 相消干涉，暗 ii）当 ＝(2k+1)时，即 相长干涉，亮 晶片厚度d的影响如下（波长确定） ： 25 波长确定 石英劈尖等厚条纹 等厚条纹 26 3）白光干涉： 当光源采用包含各种成份的白光时，光强应是各种单 色光干涉强度的非相干叠加。 波长的影响（晶片厚度d确定） ： 若厚度不均匀，则出现彩色条纹 由于某种波长干涉相消而呈现它的互补色，这种现象叫（显）色偏振（chromatic polarization） 如 红色（656.2 nm） 相消， 出现绿色（492.1nm） 蓝色（485.4nm） 相消， 出现黄色（585. 3 nm） 色偏振是检验材料有无双折射效应的灵敏方法，用显微镜观察各种材料在白光下的色偏振，可以分析物质内部的某些结构—偏光显微术。 27 硫代硫酸钠晶片的色偏振图片 28 4、光测弹性方法及玻璃内应力的测定： 光弹效应（应力双折射效应）：由应变引起的双折射现象。 将有机玻璃加力，发现有机玻璃变成各向异性。加力的方向即光轴的方向。 在观察偏振光干涉的装置中，将有机玻璃取代