黎善斌《自动检测技术与装置》第十节 核辐射式检测元件.pptVIP

第十节 核辐射式检测元件 核辐射式检测元件是利用被测物质对射线的吸收、散射、反射或射线对被测物质的电离作用而工作的，可用来检测厚度、物位、密度、成分等各种参数，还可用于金属探伤等 核辐射式检测元件主要由放射源、检测器及转换电路组成 第十节 核辐射式检测元件 一、放射源 在检测仪表中，采用的放射源是放射性同位素，放射性同位素的原子核是不稳定的原子核，在无任何外因作用下，它会自动衰变，同时会放出粒子或射线而变为另外的同位素，这种现象称为核衰变 第十节 核辐射式检测元件 放射源的强度随时间按指数定律而衰减，即 式中 为开始时的放射源强度； 为经过时间t后放射源强度； 为放射性衰变常数，与外界条件和时间无关 第十节 核辐射式检测元件 二、探测器 射线和物质的作用是探测射线存在和强弱 的基础，探测器就是以射线和物质的相互 作用为基础而设计的 射线与物质的作用 第十节 核辐射式检测元件 带电粒子和物质的作用 电离和激发 散射 吸收 γ射线和物质的作用 光电效应 康普顿效应 电子对的生成 第十节 核辐射式检测元件 核辐射检测器 核辐射检测器又称核辐射接收器，它的主 要用途是将核辐射信号转换成电信号，以 检测出射线强度的变化 电流电离室 闪烁计数器 气体探测器利用粒子和气体分子的相互作用，产生气体分子电离，电离电子在气体中漂移，并被收集和放大。 闪烁探测器利用粒子和固体、液体或气体分子的相互作用，产生光子，光子在透明介质中传播并被收集，再进行放大。 固体或液体介质的分子间距只相当于气体分子间距 的10%左右，电子的漂移比光子困难。 气体介质光产额不足。 探测器介质：闪烁体 无机闪烁体 简单晶体，如氧化晶体、氟化晶体、碘化晶体。 价带上的电子被激发到导带，电子退激发时发射一个光子，发光时间约为10ns，受外界影响小，但是光子的衰减时间较长，发光弱。 晶体中参杂金属或稀土杂质：NaI(Tl)、CsI(Tl)、CaF2(Eu)、ZnS(Ag)作为发光中心。杂质的混入使晶格导带和价带之间的禁带变窄，电子激发产生光子的几率升高，但寿命有很宽的分布 大比重的晶体，具有对粒子高的阻止能力，可以将探测的体积缩小。 有机闪烁体：发光的衰减时间段，约3～5ns 有机晶体：不宜生产大尺寸的闪烁体，使用性较差。 有机液体：液体溶剂配制溶质构成。常用溶剂：三甲苯、甲苯、对二甲苯。 一些溶质虽然很适合使用，但发射的光波波长较短，和光探测器的灵敏光谱谱段错位，因此在其中配入第二中溶质，吸收第一溶质发出的光，然后发出较长波长的光。第二溶质也称为光波位移剂。 有机塑料：固体溶剂配制溶质构成：把闪烁溶质溶在塑料单体中进行热聚合而成。 常用的塑料闪烁溶剂有：聚苯乙烯、聚乙烯基甲苯、二甲基苯乙烯 有机闪烁体对自身发的光透明度很好 闪烁体的性能 无机晶体的发射波段较丰富，从紫外区到黄光区都有对应的晶体。 有机闪烁体大部分发光光谱在蓝光绿光区。 发光光产额 由于闪烁体光子数目很难测量，所以用发光效率来描述闪烁体很复杂。 相对NaI（Tl）晶体的光输出：将标准尺寸的测试晶体和NaI晶体对于单能光子源在全能峰的比较来定义待测晶体的光输出。 光产额定义为光电子数／MeV，通过单个光电子信号对单能光子射线全能峰相比较得出测试结果。 发光衰减时间 入射粒子的能量丢失、电离、激发、退激发和发射光子数达到最大值的过程是闪烁体发光的增加过程，时间非常短，对于大多数有机闪烁体约为0.1ns。而无机闪烁体发光过程较复杂，需要ns量级，这个时间相对于发光之后的衰减时间而言可以忽略不计。 衰减过程符合指数衰减规律。对有机闪烁体而言约在1－10ns量级。同样无机闪烁体的衰减时间较长而且差别较大。闪烁体发光衰减时间除与温度有关外，还与入射粒子的种类有关。 放射性检测仪器 最常用的检测器:电离型检测器、闪烁型检测器和半导体检测器。 原理： 如果核辐射被电离室中的气体吸收，该气体将发生电离。电离探测器即是通过收集射线在气体中产生的电离电荷进行测量的。 仪器：常用的有电离室、正比计数管、盖革—弥勒计数管（G-M管）。 用法： 电离室是测量由电离作用而产生的电离电流，适用于测量强放射性；正比计数管和盖革—弥勒计数管则是测量由每一入射粒子引起电离作用而产生的脉冲式电压变化，从而对入射粒子逐个计数，这适合于测量弱放射性。 原理：是利用射线照射在某些闪烁体上而使它发生闪光的原理进行测量的仪器。它具有一个闪烁体，当射线进入其中时产生闪光，然后用光电倍增管将闪光讯号放大、记录下来。 用法：该探测器以其高灵敏度和高计数率的优点而被用作测量α、β、γ辐射强度。由于它对不同能量的射线具有很高的分辨率，所以又可作谱仪使用。通过能谱测量，鉴别